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Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible gracias a la ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm
... Equipado de serie con una esclusa para muestras de 150 mm, el SU8700 ofrece un alto rendimiento de muestras, incluso para las más grandes, y un entorno de cámara de muestras constantemente limpio para obtener imágenes de alta resolución ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm
... El SU7000 es ideal para muestras grandes o pesadas y para integrar una amplia gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 µm - 10 µm
... Aplicaciones del SEM de sobremesa Phenom XL G2 El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom XL G2 de última generación automatiza su proceso de control de calidad, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6 nm
... Desktop SEM para un análisis SEM robusto y sin esfuerzo, ampliando su capacidad de investigación. MEB de sobremesa Phenom Pro La sexta generación del SEM de sobremesa Thermo Scientific ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6 nm
... SEM de sobremesa con capacidad EDS para un análisis elemental y SEM robusto, sin esfuerzo y versátil. MEB de sobremesa Phenom con difracción de rayos X de energía dispersiva La sexta generación del SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 0,8 nm - 1,3 nm
Peso: 950 kg
... , R: 360° -Detectores y extensiones SEM Estándar：Detector de electrones de lente interna/Detector Everhart-Thornley (ETD) Opcional：Detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED) ...
CIQTEK Co., Ltd.
CIQTEK QDAFM Diamond III/IV es un microscopio central NV de barrido basado en un centro de vacantes de nitrógeno de diamante (centro NV) y tecnología de imágenes magnéticas de barrido AFM. Las propiedades magnéticas de ...
CIQTEK Co., Ltd.
Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño ...
CIQTEK Co., Ltd.
... Una visibilidad clara fomenta nuevos descubrimientos Hoy en día, no sólo se considera importante la resolución y el rendimiento analítico en el orden nanométrico, sino también el rendimiento en la adquisición de datos. El recién nacido ...
Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales a multiescala • Alto rendimiento, procesamiento FIB de área grande de hasta 1 mm • Preparación de micromuestra sin Ga • Ultra alta ...
Aumento: 25 unit - 200.000 unit
Peso: 330 kg
Largo: 835 mm
... capaz de proporcionar rápidamente datos más útiles y novedosos. FusionScope ofrece todas las ventajas de un microscopio de fuerza atómica con SEM totalmente funcional. Es capaz de realizar la mayoría ...
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