Microscopio SEM MAGNAde metrologíade mesade alta resolución
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
Características
- Tipo
- SEM
- Aplicaciones técnicas
- de metrología
- Configuración
- de mesa
- Otras características
- de alta resolución, de fuerte contraste
Descripción
UHR SEM para la caracterización de nanomateriales a escala sub-nanométrica
- Imágenes de alta resolución y alto contraste de materiales de próxima generación (por ejemplo, estructuras de catalizadores, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala)
- Excelente plataforma adecuada para la metrología SEM/STEM a escala sub-nanométrica
- Rápida configuración del rayo de electrones - las condiciones óptimas de imagen están garantizadas por el Rayo en Vuelo Tracing™
- Sistema multidetector TriBE™ y TriSE™ para la nanocaracterización de la muestra
- Plataforma modular de software intuitiva diseñada para un funcionamiento sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
---
Catálogos
No hay ningún catálogo disponible para este producto.
Ver todos los catálogos de Tescan GmbH
Búsquedas asociadas
- Microscopio
- Microscopio de laboratorio
- Microscopio de inspección
- Microscopio de sobremesa
- Microscopio de medidas
- Microscopio para análisis
- Microscopio de alta resolución
- Microscopio automático
- Microscopio industrial
- Microscopio para investigación en materiales
- Microscopio para control de calidad
- Microscopio para la investigación
- Microscopio confocal
- Microscopio modular
- Microscopio de alta precisión
- Microscopio en tiempo real
- Microscopio SEM
- Microscopio de fuerte contraste
- Microscopio de electrones secundarios
- Microscopio para inspección de material
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.