Microscopio FIB/SEM AMBER X

para análisisin-lens SEmodular

Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales a multiescala • Alto rendimiento, procesamiento FIB de área grande de hasta 1 mm • Preparación de micromuestra sin Ga • Ultra alta resolución, imágenes y análisis FEG-SEM sin campos. • Detección In-lens SE y BSE • Optimización de la resolución para tomografía FIB-SEM multimodal de alto rendimiento • Campo de visión superior para facilitar la navegación. • Interfaz gráfica de usuario modular Essence™ fácil de usar