Microscopio FIB/SEM AMBERpara análisispara investigación en materialesde alta precisión
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Características
- Tipo
- FIB/SEM
- Aplicaciones técnicas
- para análisis, para investigación en materiales
- Otras características
- de alta precisión, de resolución ultra alta
Descripción
FIB-SEM nano analítico versátil para amplias capacidades de investigación de materiales
• Preparación de micro muestras con alta precisión
• Imagen SEM libre de campos con ultra alta resolución con nano análisis
• Campo de visión extendido con fácil navegación.
• Automatización multisitio del proceso.
• Tomografía FIB-SEM multimodal.
• Interfaz de usuario con software modular de fácil uso.
• Atractivos paquetes opcionales para diversas aplicaciones.
Catálogos
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