Microscopio FIB/SEM Helios 5

para control de calidadpara investigación en materiales3D

Fresado con haz de iones focalizado y ablación con láser de femtosegundo Los sistemas láser Helios 5 PFIB de Thermo Scientific combinan el fresado por haz de iones focalizado en plasma con la ablación por láser de femtosegundo y la obtención de imágenes SEM (microscopía electrónica de barrido). Esta combinación "TriBeam" permite obtener imágenes y análisis de alta resolución con capacidad de ablación in situ, ofreciendo velocidades de eliminación de material sin precedentes para una rápida caracterización a escala milimétrica con resolución nanométrica. El láser de femtosegundo puede cortar muchos materiales a velocidades que son órdenes de magnitud más rápidas que una FIB típica. Se puede crear una sección transversal grande (cientos de micrómetros) en menos de cinco minutos. Dado que el láser tiene un mecanismo de eliminación diferente (ablación frente al pulverizado iónico del FIB), puede procesar fácilmente materiales difíciles, como muestras no conductoras o sensibles a los haces de iones. La duración extremadamente corta de los pulsos láser de femtosegundo casi no introduce artefactos como el impacto térmico, la microfisuración, la fusión o los típicos del pulido mecánico tradicional. En la mayoría de los casos, las superficies fresadas con láser están lo suficientemente limpias para la obtención directa de imágenes SEM e incluso para técnicas sensibles a la superficie, como el mapeo por difracción de electrones retrodispersados (EBSD). Ofrecemos una amplia cartera de productos y funciones de automatización avanzadas para aplicaciones como la preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión (TEM), la preparación de muestras para tomografía por sonda atómica (APT) y el análisis estructural 3D.