Preparación de muestras para imágenes TEM y STEM o tomografía por sonda atómica. Fácil de usar con automatización avanzada. Capaz de realizar una caracterización 3D del subsuelo de alta calidad.
Preparación de muestras FIB
El nuevo Thermo Scientific Helios 5 DualBeam se basa en las capacidades de imagen y análisis de alto rendimiento de la familia líder del sector Helios DualBeam. Está cuidadosamente diseñado para satisfacer las necesidades de los investigadores e ingenieros de ciencias de los materiales para una amplia gama de casos de uso de microscopía electrónica de barrido con haz de iones focalizado (FIB-SEM), incluso en las muestras más difíciles.
El Helios 5 DualBeam redefine el estándar en imágenes de alta resolución con alto contraste de materiales; preparación rápida, fácil y precisa de muestras de alta calidad para imágenes (S)TEM y tomografía de sonda atómica (APT), así como la caracterización de subsuperficie y 3D de alta calidad. Basándose en las capacidades probadas de la familia Helios DualBeam, se han diseñado avances adicionales para el nuevo Helios 5 DualBeam con el fin de garantizar que el sistema esté optimizado para una variedad de flujos de trabajo manuales o automatizados. Estas mejoras incluyen:
-Mayor facilidad de uso: El Helios 5 DualBeam es el DualBeam más accesible para usuarios de todos los niveles de experiencia. La formación del operario puede reducirse de meses a días y el diseño del sistema ayuda a todos los operarios a conseguir resultados uniformes y repetibles en una amplia variedad de aplicaciones avanzadas.
-Aumento de la productividad: Las capacidades avanzadas de automatización, el aumento de la robustez y las mejoras de estabilidad en el Helios 5 DualBeam y el software Thermo Scientific AutoTEM 5 pueden aumentar significativamente el rendimiento de la preparación de muestras al permitir el funcionamiento sin supervisión e incluso durante la noche.
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