FIB-SEM versátil de alto rendimiento con automatización avanzada
El Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM es un microscopio electrónico de barrido de haz de iones (FIB-SEM) avanzado y de resolución ultra alta con enfoque analítico. Destaca por ofrecer una excepcional preparación de muestras y caracterización 3D para una amplia gama de muestras, incluidos materiales magnéticos y no conductores. Diseñado con características innovadoras para mejorar el rendimiento, la fiabilidad y la facilidad de uso, el FIB-SEM Scios 3 es una solución ideal para científicos e ingenieros que realizan investigaciones y análisis avanzados en diversos entornos.
Combinado con el conjunto completo de aplicaciones de software automatizadas, el microscopio electrónico de fibra óptica Scios 3 está adaptado para facilitar los casos de uso más comunes. Esta solución innovadora y fácil de usar aumenta significativamente la productividad, por lo que es muy valiosa para los usuarios tanto de la industria como del mundo académico.
características
Análisis automatizado de secciones transversales
La FIB-SEM Scios 3 ofrece una aplicación automatizada para el análisis de secciones transversales, lo que permite una caracterización del subsuelo de alta calidad con una orientación precisa. Agiliza los flujos de trabajo, reduce la intervención del usuario y garantiza resultados uniformes y de alta calidad en entornos de alto rendimiento.
Caracterización analítica 3D de alto rendimiento
El software Auto Slice & View 5 de Thermo Scientific para la FIB-SEM Scios 3 ofrece seccionamiento en serie automatizado para análisis 3D de alto rendimiento. La perfecta integración permite la recogida de datos multimodal, incluyendo imágenes SEM, composicionales, microestructurales e información cristalográfica.
Preparación de muestras (S)TEM automatizada, de alta calidad y específica para cada lugar
El FIB-SEM Scios 3 permite preparar de forma rápida y sencilla muestras de (S)TEM de alta calidad y específicas para cada lugar.
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