Microscopio electrónico de barrido con haz iónico focalizado Scios 2

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Microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizado para la preparación de muestras de alta calidad y caracterización en 3D de muy alta resolución. El Scios 2 DualBeam de Thermo Scientific es un sistema analítico de microscopía electrónica de barrido con haz de iones focalizado (FIB-SEM) de ultra alta resolución que proporciona una preparación de muestras y un rendimiento de caracterización 3D extraordinarios para una amplia gama de muestras, incluyendo materiales magnéticos y no conductores. Con características innovadoras diseñadas para aumentar el rendimiento, la precisión y la facilidad de uso, el Scios 2 DualBeam es una solución ideal para satisfacer las necesidades de los científicos e ingenieros en investigación y análisis avanzados en entornos de investigación académicos, gubernamentales e industriales. Caracterización de la subsuperficie La caracterización subsuperficial o tridimensional es a menudo necesaria para comprender mejor la estructura y las propiedades de una muestra. El Scios 2 DualBeam, con el software opcional Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4), permite la adquisición totalmente automatizada y de alta calidad de conjuntos de datos 3D multimodales, incluyendo imágenes de electrones retrodispersados (BSE) para obtener el máximo contraste de los materiales, espectroscopia de energía dispersiva (EDS) para obtener información sobre la composición y difracción de electrones retrodispersados (EBSD) para obtener información microestructural y cristalográfica. En combinación con el software Avizo de Thermo Scientific, el Scios 2 DualBeam ofrece una solución de flujo de trabajo única para la caracterización y el análisis 3D avanzado de alta resolución a escala nanométrica. Imágenes de electrones retrodispersados y de electrones secundarios La innovadora columna de electrones NICol constituye la base de las capacidades de imagen y detección de alta resolución del sistema.