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- Sistema de medición de dimensiones críticas
- TZTEK Technology Co.,ltd
Sistema de medición de dimensiones críticas MT2010VIS/IRde infrarrojospor cámarapara semiconductor
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Características
- Magnitud física
- de dimensiones críticas
- Tecnología
- por cámara, de infrarrojos
- Objeto de la medición
- para semiconductor
- Otras características
- automático
Descripción
El sistema de infrarrojos de TZTEK ocupa una posición de liderazgo mundial. El sistema combina una cámara de infrarrojos de alto rendimiento con una óptica de infrarrojos de diseño optimizado para generar imágenes con una resolución y un contraste excelentes.
características principales
-Medición automática
-Combinación de luz visible e infrarroja en modo reflejado y transmitido
-SECS/GEM
-Bajo coste de mantenimiento, estable y fiable
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