Sistema de medición efecto Hall DX-70

de concentricidadresistividadpara semiconductor

Se utiliza para medir parámetros importantes como la concentración de portadores, la movilidad, la resistividad y el coeficiente Hall de los materiales semiconductores. Estos parámetros deben ser controlados de antemano para comprender las propiedades eléctricas de los materiales semiconductores. Por lo tanto, el sistema de prueba de efecto Hall es una herramienta importante para comprender e investigar los dispositivos semiconductores y las propiedades eléctricas de los materiales semiconductor DX-70 sistema de medición de efecto Hall consta de un electroimán, fuente de alimentación de electroimán, fuente de corriente constante de alta precisión, voltímetro de alta precisión, tarjeta de matriz, soporte de muestra de efecto Hall, muestra estándar y software del sistema. Esta prueba del sistema utiliza el último metro importado KEITHLEY de la fuente de la prueba, combinado con la baja latencia que empareja y la tarjeta de matriz del alto-ancho de banda, que mejora grandemente la gama y la exactitud de la corriente de la fuente de alimentación de la muestra y del voltaje de Pasillo de la muestra de la prueba. La amplia fuente de alimentación de corriente y el amplio rango de prueba de voltaje pueden cubrir la mayoría de los dispositivos semiconductores en el mercado. Los resultados experimentales son calculados automáticamente por el software, y los parámetros tales como concentración del portador a granel, concentración del portador de la hoja, movilidad, resistencia, coeficiente de Pasillo, y magnetorresistencia se pueden obtener al mismo tiempo.