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- Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd.
Sistema de medición antirrobo DX-9000 seriesresistividadefecto Hallpor conductividad
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Características
- Magnitud física
- resistividad, antirrobo, efecto Hall
- Tecnología
- magnético, por conductividad
- Modo de funcionamiento
- automatizado
- Objeto de la medición
- para semiconductor, para materiales magnetostrictivos
- Aplicaciones
- para aplicaciones industriales, de laboratorio, para prueba de componente
- Otras características
- configurable
Descripción
Resumen
Funciones
Características principales
Configuraciones disponibles y capacidades clave
Especificaciones técnicas
- La serie DX-9000 es un sistema de medida completamente automatizado de propiedades de transporte eléctrico para caracterizar el efecto Hall, la magnetorresistencia (R–H), la resistencia dependiente de la temperatura (R–T) y las características I–V. Integra instrumentos de medida de precisión (p. ej. Keithley), fuentes de campo magnético seleccionables (electroimanes o imanes superconductores sin helio líquido), soportes de muestra configurables y software de prueba automatizado para mediciones repetibles.
Funciones
- Medir el efecto Hall, las características R–H (resistencia vs campo magnético), las características R–T (resistencia vs temperatura) y las características I–V (resistividad).
- Derivar parámetros: resistencia superficial, resistividad, coeficiente de Hall, movilidad Hall, concentración de portadores y tipo de conductividad.
- Generar salidas características: curvas de parámetros dependientes de la temperatura o del campo magnético; curvas I–V bajo distintos campos y temperaturas; gráficos R–H y R–T para análisis e informes.
Características principales
- Las mediciones de resistividad, coeficiente de Hall y movilidad Hall cumplen con la norma ASTM‑F76.
- Amplio rango de medición de resistencia y resistividad según configuración (desde ultra‑baja ≈100 nΩ hasta resistencias elevadas hasta 100 GΩ en configuraciones específicas).
- Tarjeta de muestra enchufable con placa de cuatro puntos incluida para simplificar el montaje de la muestra y reducir la preparación de electrodos.
- La configuración estándar permite medir dos muestras simultáneamente; expansión opcional a cuatro muestras.
- Secuencias de medida y cálculo automatizadas mediante software dedicado; un conjunto de datos típico de efecto Hall puede obtenerse en aproximadamente 3 minutos.
- Campo magnético altamente estable (estabilidad 24 h < ±0,5 G) con cruce por cero suave; la fuente del electroimán incluye gaussímetro integrado y control fino (resolución 0,1 G; ejemplo rampa 0→1 kG en ~20 s).
- Opciones de control de temperatura seleccionables que permiten mediciones Hall y de resistencia en amplios rangos de temperatura.
Configuraciones disponibles y capacidades clave
- Sistemas estándar (modelos): DX-9003, DX-9005, DX-9007 — movilidad hasta ~1×10^5 cm^2/Vs; rango de concentración de portadores ~6×10^12 a 6×10^21 cm^-3; resistividad 5×10^-7 a 5×10^2 Ω·cm.
- Sistemas de alta sensibilidad (modelos): DX-9003HS, DX-9005HS, DX-9007HS — movilidad hasta ~1×10^6 cm^2/Vs; concentración de portadores hasta ~6×10^23 cm^-3; resistividad hasta ~5×10^-9 Ω·cm.
- Sistemas de alta resistencia (modelos): DX-9003HR, DX-9005HR, DX-9007HR — concentración de portadores desde ~6×10^8 hasta ~6×10^23 cm^-3; resistividad hasta ~5×10^6 Ω·cm; medida de resistencia hasta 10 GΩ.
- Opciones de entorno térmico: caja puntual de nitrógeno líquido (77 K); termostatos de nitrógeno líquido (estándar 80–325 K; alta temperatura 80–500 K); refrigeradores de circulación (4 K–325 K o 10 K–325 K); horno de alta temperatura (325 K–1000 K).
- Entornos de campo magnético: electroimanes a temperatura ambiente (ej.: 1 T @10 mm; 2,4 T @10 mm; 2,6 T @10 mm según modelo); criostatos de temperatura variable (ej.: 0,44 T @ LN2 hasta 2,0 T @ LN2 según modelo; 0,26–1,5 T para refrigeradores de ciclo cerrado según tipo).
- Componentes opcionales: plataformas criogénicas superconductoras sin helio líquido (serie CFMS, 5 T–18 T, 1,6 K–400 K), opciones ópticas (polo de cabeza polar, caja de blindaje óptico con trayectoria), mecanismo giratorio, bomba de vacío, unidad de refrigeración por agua en circuito y opciones adicionales de temperatura/campo.
Especificaciones técnicas
- Serie / modelos: serie DX-9000 (variantes Standard, HS, HR: DX-9003/9005/9007; DX-9003HS/9005HS/9007HS; DX-9003HR/9005HR/9007HR).
- Propiedades medidas: efecto Hall, magnetorresistencia (R–H), resistencia dependiente de la temperatura (R–T), características I–V.
- Parámetros derivados: resistencia superficial, resistividad, coeficiente Hall, movilidad Hall, concentración de portadores, tipo de conductividad.
- Rangos de medición de resistencia (por configuración): Standard ≈ 10 mΩ – 10 MΩ; Alta sensibilidad ≈ 0,1 mΩ – 10 mΩ (opción baja resistencia 100 nΩ – 10 mΩ); Alta resistencia 0,1 mΩ – 10 GΩ.
- Capacidad de fuente de corriente: Standard/HS ±50 pA – ±1,05 A (ej.: ±1,05 A @ ±21 V, ±105 mA @ ±210 V); HR ±0,1 pA – ±0,1 A; resolución de medición: HS/Standard hasta 10 pA / HR hasta 10 fA.
- Fuente/medida de tensión: rangos y resoluciones ejemplos: Standard resolución mínima 0,1 μV (±0,1 μV – ±200 V); HS ±1 nV – ±100 V; HR ±1 nV – ±100 V.
- Rangos de resistividad: Standard 5×10^-7 – 5×10^2 Ω·cm; HS 5×10^-9 – 5×10^2 Ω·cm; HR 5×10^-9 – 5×10^6 Ω·cm.
- Rangos de movilidad: Standard hasta ~1×10^5 cm^2/Vs; HS/HR hasta ~1×10^6 cm^2/Vs (según modelo).
- Rangos de concentración de portadores: Standard ~6×10^12 – 6×10^21 cm^-3; HS hasta ~6×10^23 cm^-3; HR desde ~6×10^8 – 6×10^23 cm^-3 (según modelo).
- Estabilidad del campo magnético: estabilidad 24 h < ±0,5 G; gaussímetro integrado y control fino; cruce por cero suave.
- Tamaños máximos de muestra (ejemplos por variante): 10 × 10 × 3 mm; 30 × 30 × 3 mm; 50 × 50 × 3 mm.
- Número de muestras medidas simultáneamente: Standard 2 (ampliable a 4); configuraciones HS/HR típicamente para una sola muestra en alta sensibilidad/alta resistencia.
- Huella de instalación típica (ejemplos): 2 m × 1,5 m; 5 m × 2 m (según configuración).
- Precisión de la prueba: bajo las suposiciones indicadas (espesor de muestra 100 nm, campo 10 000 Gauss, coeficiente de corrección 1): precisión de la prueba de resistencia ≈2 %; resistividad, coeficiente Hall, concentración de portadores y movilidad ≈5 %.
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