Espectrómetros de fluorescencia HELMUT FISCHER

Medidor por fluorescencia de rayos X robusto y económico para el análisis no destructivo de materiales y la medición de espesores de recubrimientos

Medidor por fluorescencia de rayos X para un análisis rápido y no destructivo de aleaciones de oro y plata

Medidor por fluorescencia de rayos X para la medición manual o automática de espesores de recubrimiento de capas funcionales, capas de protección anticorrosiva y piezas de fabricación en masa.

Medidor por fluorescencia de rayos X con mesa X/Y programable y eje Z para la medición automática de espesores de recubrimiento y para el análisis de materiales Ámbitos de aplicación típicos Análisis ...

Medidor por fluorescencia de rayos X para las máximas exigencias, con mesa X/Y programable y eje Z para la medición automática de capas muy finas y para el análisis de trazas

Medidor por fluorescencia de rayos X con óptica de rayos X policapilar para la medición y el análisis automáticos de espesores y composiciones de recubrimientos en los componentes y estructuras más pequeños.

... sin calibración previa, es decir, libres de patrones de calibración. Características • Instrumento portátil de fluorescencia de rayos X para uso móvil • Optimizado para la medición ...

Sistema de medición por fluorescencia de rayos X para la medición en línea y el análisis continuados de recubrimientos delgados, como CIGS, CIS o CdTe en el proceso de producción

... recubrimiento de manera rápida y precisa en la industria de galvanoplastia y fabricación electrónica. Los instrumentos por fluorescencia de rayos X miden de abajo a arriba, lo que permite un posicionamiento ...

Con ejes accionados por motor (opcional) y dirección de medición de arriba a abajo, los instrumentos de medición de la gama XDL® permiten pruebas en serie automatizadas. Gracias a las distintas versiones – que se diferencian por su fuente ...