Espectrómetros de inspección HELMUT FISCHER

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espectrómetro de fluorescencia de rayos X
espectrómetro de fluorescencia de rayos X
FISCHERSCOPE® XUL®

• Análisis de baños galvánicos y medición del espesor del recubrimiento con fluorescencia de rayos X según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • El punto de medición más pequeño con el XULM & nbsp; aprox. 0,1 mm; punto de medición más pequeño ...

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espectrómetro de fluorescencia de rayos X
espectrómetro de fluorescencia de rayos X
FISCHERSCOPE®XULM®

... perfectamente adecuado para medir recubrimientos galvánicos en piezas producidas en masa como tuercas y pernos. Todos los espectrómetros de rayos X de la serie XUL / XULM son fáciles e intuitivos de emplear. Las muestras ...

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espectrómetro de fluorescencia de rayos X
espectrómetro de fluorescencia de rayos X
FISCHERSCOPE® XDL®

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con dispersión de energía para el análisis automatizado de materiales y la medición no destructiva del espesor del recubrimiento de acuerdo con ISO 3497 y ASTM B 568 & nbsp; • ...

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espectrómetro de fluorescencia de rayos X
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FISCHERSCOPE® XDLM®

... / PCB • Recubrimientos en conectores y contactos en la industria electrónica como Au / Ni / Cu y Sn / Ni / Cu Los espectrómetros FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® y XDLM® están estrechamente relacionados con la serie XUL ...

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espectrómetro de fluorescencia de rayos X
espectrómetro de fluorescencia de rayos X
FISCHERSCOPE® XDV®-SDD

El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD es uno de los instrumentos de fluorescencia de rayos X más potentes de Fischer . Este espectrómetro XRF está equipado con un potente detector de deriva de silicio (SDD) de alta resolución ...

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espectrómetro de fluorescencia de rayos X
espectrómetro de fluorescencia de rayos X
FISCHERSCOPE® XDLM®-PCB

... la muestra: 5 mm • Patentado por Fischer: el método DCM para un ajuste sencillo y rápido de la distancia de medición • Inspección de aceptación individual como instrumento totalmente protegido según la ley alemana de ...

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