Espectrómetro de fluorescencia de rayos X FISCHERSCOPE® XDL®

de mediciónde vigilanciapara control de calidad

• Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con dispersión de energía para el análisis automatizado de materiales y la medición no destructiva del espesor del recubrimiento de acuerdo con ISO 3497 y ASTM B 568 & nbsp; • Punto de medición más pequeño XDLM: aprox. 0,1 mm; punto de medición más pequeño XDL: aprox. 0,2 mm • Tubo de rayos X de tungsteno o tubo microfocal de tungsteno (XDLM) como fuente de rayos X • Detectores de tubo contador proporcionales probados para mediciones rápidas • Fijo o colimadores intercambiables • Filtros primarios fijos o intercambiables automáticamente • Disponible con una etapa XY manual o programable & nbsp; • Carcasa ranurada para medir en grandes placas de circuitos impresos • Cámara de video para una fácil fijación de la ubicación de medición • Dispositivos certificados de protección completa & nbsp; os espectrómetros FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® y XDLM® están estrechamente relacionados con la serie XUL & nbsp; Todos los Los componentes principales, como el detector, los tubos de rayos X y las combinaciones de filtros, son idénticos, pero hay una diferencia significativa: los dispositivos XDL & nbsp; y XDLM & nbsp; miden de arriba a abajo. Y eso significa un análisis conveniente de muestras no planas. ¡Las formas complejas ya no son un problema! El enfoque de arriba hacia abajo tiene otra ventaja: facilita las mediciones automatizadas. Equipado con una etapa de muestra programable, XDL & nbsp; 240 y XDLM & nbsp; 237 son ideales para escanear superficies. Por lo tanto, puede verificar el grosor de las capas en piezas más grandes o medir automáticamente muchas piezas pequeñas una tras otra.