Espectrómetro de fluorescencia de rayos X FISCHERSCOPE® XDV®-SDD

de mediciónde inspecciónSDD

El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD es uno de los instrumentos de fluorescencia de rayos X más potentes de Fischer . Este espectrómetro XRF está equipado con un potente detector de deriva de silicio (SDD) de alta resolución con un área efectiva de 50 mm². Esto le permite medir incluso las capas más finas de forma precisa y no destructiva - por ejemplo, recubriminetos de oro de unos 2 nm de espesor en marcos de plomo. En combinación con el nuevo procesador digital de impulsos DPP+, desarrollado por la empresa, puede elevar el rendimiento de sus medidas a un nuevo nivel. Ahora se pueden procesar un mayor número de cuentas, lo que permite reducir los tiempos de medición o mejorar la repetibilidad de los resultados de las mediciones. Al mismo tiempo, el XDV-SDD es perfectamente adecuado para el análisis no destructivo de materiales. Por ejemplo, su sensibilidad de detección para las trazas de plomo en el plástico es de aproximadamente 2 ppm, varios órdenes de magnitud inferiores a los valores exigidos por RoHS o CPSIA. Para crear las condiciones ideales para cada medida de espesor de recubrimiento por XRF, el XDV-SDD dispone de colimadores y filtros primarios intercambiables, lo que permite trabajar a un alto nivel. El dispositivo, extremadamente robusto y con un panel de control intuitivo, es fácil de manejar mediante un joystick y botones, y está diseñado específicamente para realizar pruebas en serie en el ámbito industrial.