Espectrómetros de masa CAMECA

... rendimiento y automatización completa El IMS 7f-Auto es la versión más reciente de nuestra exitosa línea de productos de Espectrómetro de masa de iones secundarios (SIMS) IMS xf. Diseñado para entregar ...

... sistema de doble copa de Faraday se combina con un sistema de conmutación de pico de masa rápida (tan rápido como 0,3 segundos a una alta potencia de resolución de masa) para obtener más beneficios en ...

... fines de protección nuclear. Una combinación única de alta reproducibilidad a alta resolución espacial y alta resolución de masa Con el nuevo IMS 1300-HR³, CAMECA mejora enormemente el rendimiento de su SIMS de gran ...

... lateral alta. Se basa en un diseño óptico coaxial del haz de iones y la extracción de iones secundarios, y en un analizador de masa del sector magnético original con recolección múltiple. El NanoSIMS 50L ofrece métricas ...

Perfilado de profundidad de adulterante de SIMS de cuádruplo y análisis de capa delgada en semiconductores El SIMS 4550 de CAMECA ofrece capacidades extendidas para el perfilado de profundidad ultra superficial, elementos traza y mediciones ...

... IMS 1300-HR³, combinando de forma exclusiva la Alta Reproducibilidad con una Alta Resolución espacial y Alta Resolución de masa. Cubriendo toda la gama de aplicaciones geocronológicas de U-Pb, desde la determinación ...

... semiconductores avanzados. Ofreciendo una amplia gama de energías de impacto (100 eV a 10 keV) sin comprometer la resolución de masa y la densidad del haz primario, aseguran un rendimiento analítico inigualable con un ...

SIMS completamente automatizado para la fabricación de semiconductores de alto volumen La herramienta AKONIS SIMS llena un vacío crítico en los procesos de fabricación de semiconductores al proporcionar una detección de alto rendimiento ...