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Aumento: 160 unit - 175.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 15 nm
... SEM de sobremesa económico y fácil de usar, con funciones de automatización fiables. El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom Pure es una herramienta ideal para ...
Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm
... Análisis de la limpieza de los componentes con un SEM de sobremesa polivalente. SEM de sobremesa para el análisis de limpieza de componentes El SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ...
microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... diseño del sistema óptico cuenta con una capacidad de EELS para el análisis avanzado de materiales. El SU9000 es el nuevo SEM premium de HITACHI. Presenta una óptica de electrones única, con la muestra colocada dentro ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolución espacial: 1,2 nm
... modo de alto vacío y el de presión variable. EM Wizard es un sistema basado en el conocimiento para la obtención de imágenes SEM que va más allá de las condiciones básicas preestablecidas y las recetas. Su facilidad de ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... Rendimiento y potencia en una plataforma flexible Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El operador puede automatizar muchas operaciones ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Microscopio digital para análisis de fallos, control y garantía de calidad, investigación y desarrollo o análisis forense. La excelente óptica, el manejo intuitivo y el software inteligente permiten al usuario obtener ...
... El microscopio confocal de campo amplio integrado ZEISS Smartproof 5 es su sistema para el análisis de superficies en el aseguramiento y control de calidad. Póngalo a trabajar en una amplia gama de aplicaciones industriales ...
Peso: 9,5 kg
Largo: 362 mm
Ancho: 251 mm
... análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos ...
Nikon Metrology
Resolución espacial: 5 nm - 100.000 nm
... El compacto AFM de investigación que ofrece la mejor relación calidad-precio El CoreAFM es el resultado de la combinación inteligente de los componentes principales de AFM para lograr la máxima versatilidad y facilidad de uso. Debido ...
Nanosurf
Solución de medición flexible e integral El MarSurf CM explorer es un microscopio confocal compacto que permite medir o analizar superficies de forma precisa y tridimensional, sin contacto, independientemente del material ...
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