Microscopios para topografía

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microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom Pure G6

Aumento: 160 unit - 175.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 15 nm
Peso: 50 kg

... plazo. Estos SEM ofrecen resultados fiables y uniformes con mayor rapidez. Incluso los usuarios principiantes pueden obtener imágenes de alta resolución en cuestión de minutos, ayudándole a usted y a su equipo a ser más productivos. SEM ...

microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom ParticleX TC

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm
Peso: 75 kg

... hacerlo, especialmente en entornos de fabricación exigentes como la automoción. En comparación con los microscopios ópticos tradicionales, nuestro SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ParticleX TC no solo le permite ...

microscopio digital
microscopio digital
DVM6

... El microscopio digital DVM6 revoluciona la microscopía con su innovadora óptica basculante. Esta tecnología de vanguardia permite a los usuarios ajustar sin esfuerzo el ángulo de la óptica, proporcionando una flexibilidad ...

microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
SU3 series

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 2,5, 1,6, 3, 15 nm

... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas gracias a ...

microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
TM4000PlusIII

Aumento: 10 unit - 250.000 unit
Peso: 55, 53 kg
Largo: 614, 617 mm

... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en el menor tiempo posible ...

microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
FlexSEM II

Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4 nm
Peso: 107 kg

... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera invertir en un SEM ...

microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
JSM-IT810

... reconstrucción de superficies 3D en vivo para la observación de la topografía de superficies. Con la serie JSM-IT810, manejar un SEM de EF nunca ha sido tan fácil. La observación SEM y el análisis EDS ...

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Jeol
microscopio óptico
microscopio óptico
Eclipse LV100ND

Peso: 9,5 kg
Largo: 657 mm
Ancho: 251 mm

... análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos microscopios ...

microscopio óptico
microscopio óptico
UP-5000

Resolución espacial: 0,01 nm

... resolución nanométrica. Diferente a cualquier otro microscopio óptico El UP-5000 tiene una combinación 6 en 1 de muchas técnicas ópticas en una sola plataforma. Como resultado, nuestro microscopio óptico proporciona ...

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RTEC Instruments
microscopio de fuerza atómica
microscopio de fuerza atómica
LensAFM

... sólo tenga que girar la torreta de su microscopio óptico o perfilómetro y ejecutar la exploración. Mejore su microscopía óptica con AFM para obtener información avanzada Dado que la resolución de la microscopía ...

microscopio SEM
microscopio SEM

... proporciona documentación de la superficie de un componente para revelar irregularidades. Microscopio electrónico de barrido | SEM | Micrófono | Herramientas CNC Un Microscopio Electrónico de Barrido ...

microscopio óptico
microscopio óptico
CM EXPLORER

... producción. Tareas de medición típicas • Mediciones de rugosidad según • ISO 4287 e ISO 13565/ISO 25178 • Mediciones de topografía (p. ej.., volumen, desgaste, tribología) • Contorno y forma (2D, 3D) • Análisis de poros y partículas • ...

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