Microscopio SEM Phenom Pure G6
para control de calidadpara investigación en materialesde sobremesa

microscopio SEM
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Características

Tipo
SEM
Aplicaciones técnicas
para control de calidad, para investigación en materiales
Configuración
de sobremesa
Fuente de electrones
CeB6
Tipo de detector
de electrones secundarios, de electronos retrodispersados
Otras características
de alta resolución, automatizado, motorizado, para topografía
Aumento

Mín.: 160 unit

Máx.: 175.000 unit

Resolución espacial

Mín.: 0 nm

Máx.: 15 nm

Descripción

SEM de sobremesa económico y fácil de usar, con funciones de automatización fiables. El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom Pure es una herramienta ideal para la transición de la microscopía óptica de luz a la microscopía electrónica. Es una solución económica para la obtención de imágenes de alta resolución, proporcionando los mejores resultados de imagen de su clase. El SEM de sobremesa Phenom Pure proporciona imágenes de alta calidad gracias a la fuente CeB6 de larga duración y alto brillo, y ofrece el tiempo de carga e imagen más rápido del mercado. El autoenfoque muy fiable y las alineaciones automatizadas de la fuente lo convierten en el sistema más fácil de usar del mercado. Navegación sin pérdidas El usuario siempre conoce la posición en la muestra gracias a la navegación sin pérdida. Las vistas generales de las imágenes ópticas y electrónicas proporcionan puntos de referencia claros en todo momento. Gracias a la platina motorizada integrada, puede navegar rápidamente por la muestra. Fácil de usar Los usuarios están listos para tomar imágenes tras sólo 10 minutos de formación básica. Se dispone de una gran variedad de portamuestras para acomodar una amplia gama de muestras. La carga de muestras es rápida y segura gracias a nuestra tecnología patentada de carga de muestras al vacío. Personalice su SEM El SEM de sobremesa Phenom Pure puede equiparse con dos sistemas detectores opcionales. El primero es un sistema de espectroscopia de energía dispersiva (EDS) totalmente integrado. El segundo es un detector de electrones secundarios (SED) para aplicaciones que requieren imágenes sensibles a la superficie y la topografía.

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Catálogos

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.