Microscopio de rayos X Phenom ParticleX TC
multiusospara análisisindustrial

Microscopio de rayos X - Phenom ParticleX TC - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - multiusos / para análisis / industrial
Microscopio de rayos X - Phenom ParticleX TC - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - multiusos / para análisis / industrial
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Características

Tipo
de rayos X
Aplicaciones técnicas
para análisis, industrial, multiusos
Configuración
de sobremesa, compacto
Fuente de electrones
CeB6
Tipo de detector
de electronos retrodispersados, de electrones secundarios
Otras características
automatizado, para topografía
Aumento

Máx.: 200.000 unit

Mín.: 160 unit

Resolución espacial

Máx.: 10 nm

Mín.: 0 nm

Peso

75 kg
(165,3 lb)

Ancho

316 mm
(12,4 in)

Altura

625 mm
(24,6 in)

Descripción

Mantener la limpieza en un entorno industrial es más fácil decirlo que hacerlo, especialmente en entornos de fabricación exigentes como la automoción. En comparación con los microscopios ópticos tradicionales, nuestro SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ParticleX TC no solo le permite realizar análisis de composición más detallados a microescala, sino que también le permite detectar y analizar de forma fiable partículas translúcidas, como el vidrio, que otros sistemas suelen pasar por alto. Pero lo que realmente diferencia a este sistema compacto es el software de automatización integrado Thermo Scientific Perception, que analiza e identifica automáticamente partículas duras como el SiO2 o el corindón que pueden aumentar la tasa de desgaste de productos como las cajas de engranajes. A continuación, el software Perception ajusta la cantidad y el tipo de partículas encontradas a las especificaciones de limpieza pertinentes. Por último, el SEM de sobremesa Phenom ParticleX TC proporciona informes industriales concisos que convierten los datos brutos en respuestas claras e imparciales para usted y su equipo, lo que le permite cumplir las especificaciones de calidad, incluidas las normas VDA alemanas. Este sistema también viene con nuestro espectroscopio de rayos X de energía dispersiva (EDS) integrado para un análisis composicional avanzado. Y también puede añadir un detector de electrones secundarios (SED) para recoger electrones de baja energía de la capa superficial superior de la muestra, lo que resulta ideal para obtener información detallada de la superficie de la muestra. Cumpla las normas de calidad industrial con confianza Este sistema le ayuda a responder a la eterna pregunta: ¿Está mi producto lo suficientemente limpio? En comparación con la microscopía óptica, sube la apuesta tanto en la calidad de la imagen como en el alcance del análisis de partículas, dándole confianza en sus resultados.

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Catálogos

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.