& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositor
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... sustratos IC escaneadas con
sistemas AVI. SVS 10μ, estación de verificación CIMS impulsada por Sprint™, está diseñada para la verificación de geometrías de líneas/dedos hasta 10 µm (optimizada para 10–18 µm).
El
sistema ...
CIMS
... por sistemas AVI. Con la tecnología Sprint™, la estación está optimizada para anchos de línea/dedos de 4 µm a 8 µm. La iluminación combina un canal reflectante/coaxial con tres canales difusos separados para maximizar el contraste en ...
CIMS
... CIMS AVI, alimentada por Sprint™, diseñada para la verificación de tiras de substratos IC escaneadas con sistemas AVI. Está optimizada para la inspección de anchuras de línea/dedo de 5–8 µm y ofrece capacidades precisas ...
CIMS
... y alto rendimiento.
Óptica e iluminación
El
sistema integra un canal de luz reflectante/coaxial y tres canales difusos separados para maximizar el contraste en
superficies doradas y máscara de soldadura. ...
CIMS
... Los fabricantes requieren
inspecciones fiables para verificar matrices de micro‑agujeros, geometría de orificios, estado de bordes, acabado superficial y contaminación dentro de los orificios.
Desafíos de inspección: ...
... Inspección de defectos en la superficie: Vista singular El inspector de defectos superficiales con una sola cámara (SI1100) captura, analiza y juzga la superficie de las soldaduras o ...
... de rayas que es reflejado por la superficie del objeto de medición en las cámaras del sensor. Las desviaciones en la superficie provocan desviaciones de este patrón rayado, que son evaluadas por el software ...
... SISTEMA INTELIGENTE DE INSPECCIÓN EN FÁBRICA (SFIS) API, reconociendo la creciente demanda de la industria manufacturera para la automatización de la medición de piezas, con un mayor grado de precisión, ha desarrollado ...
& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositora los mejores proveedores