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Sistema de inspección óptico SVS 10μ
por vídeocon cámaraautomatizado

Sistema de inspección óptico - SVS 10μ - CIMS - por vídeo / con cámara / automatizado
Sistema de inspección óptico - SVS 10μ - CIMS - por vídeo / con cámara / automatizado
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Características

Tecnología
con cámara, óptico, por vídeo
Especificaciones
automatizado
Tipo
para detección de fallos, visual, de vídeo, de superficie reflectora
Aplicaciones
para la industria electrónica
Otras características
de alta resolución, controlado por ordenador, sin contacto

Descripción

Descripción
Estación de verificación AVI para tiras de sustratos IC escaneadas con sistemas AVI. SVS 10μ, estación de verificación CIMS impulsada por Sprint™, está diseñada para la verificación de geometrías de líneas/dedos hasta 10 µm (optimizada para 10–18 µm).
El sistema combina un canal de iluminación reflectante/coaxial con tres canales difusivos para maximizar el contraste en superficies doradas y máscara de soldadura. El diseño óptico permite el marcado preciso de defectos y el descarte de unidades defectuosas. La mecánica robusta y el hardware dedicado aseguran alto rendimiento y estabilidad operativa.
SVS 10μ ofrece una interfaz ergonómica y fácil de usar que reduce el tiempo de formación. Se integra con CDB™ y CDBIC™ para la gestión de datos de defectos y unidades descartadas, y es compatible con todos los sistemas AVI de CIMS y máquinas de marcado láser de terceros.

Puntos destacados
  • Configuraciones de iluminación de vídeo flexibles para un contraste óptimo
  • Calibración automática del material
  • Mesa de vacío estacionaria para manipulación estable
  • Diseño ergonómico para eficiencia del operario
  • Movimiento optimizado defecto-a-defecto para reducir tiempos de ciclo
  • Imagen clara de defectos y iluminación de vídeo ajustable

Opciones
  • Lector de códigos de barras
  • Posición de monitor ajustable
  • CDB™/CDBIC™ – clasificación de defectos y mapeo virtual de defectos

Especificaciones técnicas
  • Ancho mínimo detectable línea/dedo: 10 µm (optimizado para 10–18 µm)
  • Aplicación: verificación de tiras de sustratos IC escaneadas con sistemas AVI
  • Iluminación: canal de luz reflectante/coaxial más tres canales difusivos
  • Óptica: diseñada para permitir el marcado de defectos y el descarte de unidades defectuosas
  • Mecánica y hardware: construcción robusta para alto rendimiento y eficiencia
  • Interfaz y ergonomía: interfaz intuitiva, requiere formación mínima
  • Compatibilidad: totalmente compatible con CDB™ y CDBIC™
  • Interoperabilidad: compatible con todos los sistemas AVI de CIMS y máquinas de marcado láser de terceros

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.