Sistema de medición de temperatura IMS-K-Power

para obleapara semiconductorrobusto

Sistema de Medición Integrado (IMS) completo y llave en mano con PDA de Keysight para mediciones de caracterización de dispositivos semiconductores de potencia en oblea para I+D Los expertos en aplicaciones de FormFactor y su socio Keysight le ayudarán a configurar una solución robusta y completa, que incluye - Sistema de sondas FormFactor: TESLA300, TESLA200, T200, EPS150TESLA (otros disponibles) - Opciones de estaciones de sondas manuales, semiautomáticas y totalmente automáticas - Sondas analíticas FormFactor: sondas de alta tensión, sondas de alta corriente, sondas de alta potencia - Tarjeta de sonda de alta tensión / alta potencia T.I.P.S. "LuPo" (opcional) - Mediciones completas de sobretemperatura y automatización desde -60°C hasta +300°C - Analizador de dispositivos de potencia Keysight (PDA): B1505A (otros disponibles) - Software de automatización y modelado de Keysight: EasyEXPERT group+ - Para completar el sistema: cables, adaptadores, hardware de montaje, etc. El sistema de caracterización de dispositivos semiconductores de potencia más productivo y preciso de la industria Cuando se prueban dispositivos de Si y GaN / SiC avanzados en la oblea en lugar de en el paquete, los ingenieros de I+D y los operadores de pruebas se enfrentan a algunos retos importantes para recopilar datos de alta precisión. Entre ellos se encuentra la necesidad de que la sonda y el sistema sean antiarco a alta tensión, que la sonda y los contactos de la oblea sean de baja resistencia para una corriente elevada y que se realice un manejo especial de las obleas delgadas.