Sistema de medición de temperatura CM300xi

para obleapara calibraciónmicroscopio

El mejor rendimiento de medición de su clase con un alto nivel de automatización en el laboratorio* La estación de sondeo CM300xi responde a los retos de medición que plantean los entornos extremadamente complejos, como las pruebas desatendidas en pequeñas almohadillas a lo largo del tiempo y a múltiples temperaturas. Se consigue el mejor rendimiento de medición de su clase para una amplia gama de aplicaciones en un entorno de prueba con protección EMI, estanco a la luz y sin humedad. Las mejoras en la gestión térmica y la capacidad de automatización del laboratorio permiten mejorar el rendimiento y acelerar la obtención de datos. El CM300xi es compatible con Contact Intelligence™, una tecnología única que permite realizar pruebas autónomas de semiconductores. Una potente combinación de diseño de sistema innovador y procesamiento de imágenes de última generación proporciona una solución independiente del operador para lograr datos de medición altamente fiables en cualquier momento y temperatura. Con la unidad de manipulación de materiales, la estación de sondeo CM300xi combina la prueba de obleas totalmente automatizada con la máxima precisión y flexibilidad. El sistema puede manejar hasta cincuenta obleas de 200 o 300 mm suministradas en casetes de obleas estándar de SEMI.