Sistema de medición de temperatura IMS-K-DC

para oblea

Sistema de Medición Integrado (IMS) completo y llave en mano con Keysight SPA para mediciones paramétricas de CC en la oblea Los expertos en aplicaciones de FormFactor y su socio Keysight le ayudarán a configurar una solución robusta y completa, que incluye - Sistema de sondas FormFactor: CM300xi, SUMMIT200, MPS150 (otros disponibles) - Opciones de estaciones de sondas manuales, semiautomáticas y totalmente automáticas - Sondas analíticas FormFactor: Sondas DCP (otras disponibles) en posicionadores manuales o motorizados - Software de automatización FormFactor DC: Asistente autónomo de medición de CC para sondeos desatendidos de sobretemperatura en pequeñas almohadillas - Mediciones completas de sobretemperatura y automatización desde -60°C hasta +300°C - Analizador de parámetros de semiconductores Keysight y/o SMUs PXIe: B1500A (otros disponibles) - Software de automatización y modelado de Keysight: WaferPro XP, PathWave, IC-CAP - Para completar el sistema: cables, adaptadores, hardware de montaje, etc. El sistema de medición paramétrica de CC más productivo y preciso de la industria Las mediciones paramétricas de CC contribuyen de forma importante a la toma de decisiones en cada fase del desarrollo y la producción de productos semiconductores, para casi todos los tipos de dispositivos y tecnologías de semiconductores. Desempeñan un papel clave en la investigación de materiales avanzados, la caracterización de procesos, la caracterización y el modelado de dispositivos, la depuración de diseños, la supervisión de procesos y la clasificación de obleas de producción. Las mediciones paramétricas de CC precisas y repetibles (IV, CV, pulsadas y de alta potencia) reducen la incertidumbre.