Sistema de medición óptico CM300xi-SiPh

para obleapara calibracióntotalmente automático

estación de palpado de 300 mm con solución integrada de palpado a nivel de oblea y matriz de fotónica de silicio La estación de sondeo CM300xi-SiPh de 300 mm es la primera solución de medición integrada y verificada del mercado que permite realizar mediciones ópticas optimizadas, probadas en ingeniería y producción, justo después de su instalación, sin necesidad de un mayor desarrollo. Este exclusivo Asistente de Medición Autónomo SiPh proporciona un conjunto innovador de funciones que calibran con precisión el hardware de posicionamiento óptico a la estación de sondeo y verifican el rendimiento del sistema integrado. En combinación con el revolucionario OptoVue para calibraciones avanzadas, los algoritmos inteligentes de visión artificial y el exclusivo SiPh TopHat para entornos oscuros, protegidos y libres de escarcha, el sistema permite una verdadera calibración y recalibración autónoma a múltiples temperaturas. De este modo, es posible realizar mediciones más rápidas y precisas y reducir el coste de las pruebas. Las herramientas SiPh-Tools y la interfaz de control de fotónica (PCI), desarrolladas exclusivamente por FormFactor, proporcionan potentes herramientas de software para las alineaciones, la recopilación de datos y el análisis. Esto incluye todos los algoritmos necesarios para utilizar fibras y conjuntos de fibras con aplicaciones de acoplamiento de superficie y de borde.