Espectrómetro de fluorescencia de rayos X FISCHERSCOPE® XDAL®

para la industria electrónicade medicióncompacto

El FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® es el mejor instrumento de medición de fluorescencia de rayos X de la serie XDL & nbsp; . Como sus 'hermanos pequeños', mide de arriba a abajo, lo que hace que la medición de muestras de formas irregulares sea fácil y conveniente. Para optimizar las condiciones de medición para su tarea, el FISCHERSCOPE X-RAY XDAL & nbsp; viene con colimadores y filtros intercambiables como estándar equipo. ¡Cuanto más exigente sea la tarea de medición, más importante será el tipo de detector! El FISCHERSCOPE & nbsp; X-RAY XDAL & nbsp; por lo tanto, ofrece 3 detectores de semiconductores diferentes. El diodo PIN de silicio es un detector de rango medio y muy adecuado para medir múltiples elementos en un área de medición relativamente grande. Cuando está equipado con un PIN, el XDAL & nbsp; se usa a menudo para inspeccionar recubrimientos de materiales duros. El detector de deriva de silicio (SDD) de alta calidad ofrece una mejor resolución energética que el diodo PIN de silicio. Los espectrómetros XDAL & nbsp; equipados de este modo se utilizan para resolver tareas de medición complejas en la industria electrónica: por ejemplo, la medición de capas de aleación delgada o el análisis de materiales de elementos muy similares como el oro y el platino. Este es el instrumento XRF de confianza para el control de calidad con aplicaciones ENIG y ENEPIG.