Espectrómetro de fluorescencia de rayos X FISCHERSCOPE® XDV®-µ

de mediciónautomáticode alta precisión

• Potente modelo de primera calidad para la medición precisa del espesor del recubriminetos y el análisis de materiales en las estructuras más pequeñas y los recubrimientos más finos < 0,1 µm • Tubo Ultra microfocus con ánodo de tungsteno para un rendimiento mayor en los puntos más pequeños con µ-XRF; ánodo de molibdeno opcional • 4x Filtro intercambiable • Detector de deriva de silicio SDD extremadamente potente con un área de 20 mm² o 50 mm² para obtener la máxima precisión en capas finas • Óptica policapilar de fabricación propia para puntos de medición hasta 10 μm FWHM, en tiempos de medición cortos con alta intensidad • Procesador digital de impulsos DPP+ para lograr procesar un mayor número de cuentas, reduciendo los tiempos de medida y mejorando la repetibilidad de los resultados de las medidas • Análisis de elementos desde Al(13) hasta U(92), purga de helio disponible, medición simultánea de hasta 24 elementos • Mesa XY programable de alta precisión con una exactitud de posicionamiento de < 5 µm para el posicionamiento más exacto de la muestra y el reconocimiento automático del patrón, ofreciendo la mejor precisión de repetibilidad Campos de aplicación típicos • Mediciones en componentes y estructuras planas muy pequeñas, como placas de circuitos impresos, contactos o marcos de plomo • Medición de recubrimientos funcionales en la industria electrónica y de semiconductores • Análisis de revestimientos muy finos, por ejemplo, revestimientos de oro/paladio de ≤ 0,1 µm • Determinación de sistemas complejos de recubrimientos múltiple