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Microscopio electrónico JEM-120i
de inspecciónautomatizadode observación

Microscopio electrónico - JEM-120i - Jeol - de inspección / automatizado / de observación
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Características

Tipo
electrónico
Aplicaciones técnicas
de inspección
Otras características
automatizado, de observación
Aumento

Máx.: 1.500.000 unit

Mín.: 50 unit

Resolución espacial

0,14 nm, 0,2 nm

Descripción

Con la drástica reducción de tamaño, la JEM-120i tiene una posición de sustitución del filamento y de inserción del portamuestras más baja que los instrumentos existentes. Una unidad de filamento tipo cartucho de nuevo desarrollo ayuda a que la sustitución del filamento sea fácil y segura para cualquier persona. El instrumento tiene una luz LED en su parte frontal y su color cambia en función del estado del TEM. Se puede determinar su estado de funcionamiento a distancia. Sólo se necesitan 4 pasos desde la carga de una muestra hasta la finalización de la observación. Tras insertar el portamuestras, al hacer clic en el botón Start se realizan automáticamente las operaciones de preparación de la observación, como el aumento de tensión y el inicio de la emisión. Al mismo tiempo se captura una imagen de área amplia. Así, al hacer clic en el campo objetivo, la platina se desplaza a la posición seleccionada. Dado que el "modo Mayordomo" estándar ayuda a la adquisición de datos, incluso un principiante puede capturar datos fácilmente. Una vez finalizada la observación, puede cambiar el portamuestras manteniendo la emisión encendida. Observación perfecta sin cambiar de modo de aumento El JEM-120i está equipado con un sistema de control TEM mejorado y aperturas totalmente automatizadas, lo que elimina la necesidad de cambiar de modo de aumento y seleccionar una apertura. Las operaciones de observación pueden realizarse con mayor fluidez que con los modelos anteriores. El JEM -120i admite una gran variedad de adaptaciones. También satisface la necesidad de funciones adicionales después de la compra. Aplicación CryoNote Observación de muestras biológicas mediante JEM-1400Flash ー Flujo desde la preparación de la muestra hasta la observación ー CLEMnote Observación de área amplia mediante el uso de chip con ventana de SiN

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