Sistema de medición de dimensiones críticas NEXIV VMZ-S

del campo de visión (FOV)de distanciade coordenadas

Resumen del producto
La serie NEXIV VMZ‑S de Nikon incluye sistemas de medición por vídeo para inspecciones dimensionales y de altura en entornos industriales. Está disponible en tres envolventes de medición (VMZ‑S3020, VMZ‑S4540, VMZ‑S6555), con seis tipos de ópticas/zoom y láser de escaneo TTL como estándar.

Velocidad y precisión

• El AF láser TTL permite el escaneo de altura a alta velocidad hasta 1.000 puntos/s para obtener perfiles de superficie.
• Lectura mínima 0,01 µm y repetibilidad del AF láser 2σ ≤ 0,5 µm para mediciones trazables.
• Diseñado para flujos de inspección continuos con mediciones automáticas tolerantes a variaciones de posicionamiento de las piezas.

Puntos destacados

• Seis tipos ópticos (Tipo 1, 2, 3, 4, TZ, A) que cubren distintos campos y aumentos; Tipo 1–3 enfocan baja distorsión y alto NA, Tipo 4 y TZ cubren grandes aumentos.
• Iluminador anular de 8 segmentos con varios ángulos de incidencia (LED blancos) que mejora la captura de bordes; configuraciones de iluminación por tipo: episcópico, diascópico y campo oscuro.
• Detección de capas transparentes de ~0,1 mm mediante AF láser TTL (no disponible para Tipo A).
• Sondas de imagen y opciones de sondeo con errores de sondeo reducidos para la medición de detalles finos (P_FV2D,MPE 0,3 µm; P_F2D,MPE 0,8 µm).

Funciones principales

• Medición dimensional precisa y rápida en diferentes aumentos mediante ópticas de alto NA.
• Estrategias de iluminación flexibles y opciones específicas para medir bordes difíciles y geometrías complejas.
• Cámara 1/3" CMOS en blanco y negro o color y zoom óptico continuo para flujo de trabajo de inspección.
• Integración con software de medición Nikon y SDK opcionales para automatización y gestión de datos.

Especificaciones (resumen)
Modelo | VMZ‑S3020 | VMZ‑S4540 | VMZ‑S6555
Recorridos XYZ | 300 × 200 × 200 mm (TZ baja magnificación: 250 × 200 × 200 mm) | 450 × 400 × 200 mm (TZ baja magnificación: 400 × 400 × 200 mm) | 650 × 550 × 200 mm (TZ baja magnificación: 600 × 550 × 200 mm)
Lectura mínima | 0,01 µm (todos los modelos)
Peso máximo de muestra | 20 kg (precisión garantizada: 5 kg) | 40 kg (precisión garantizada: 20 kg) | 50 kg (precisión garantizada: 30 kg)
Error máximo admisible (MPE) | EUX/EUY, MPE = 1,2 + 4L/1000 µm; EUXY, MPE = 2,0 + 4L/1000 µm; EUZ, MPE = 1,2 + 5L/1000 µm
Error de sondeo | P_F2D,MPE = 0,8 µm; P_FV2D,MPE = 0,3 µm
Cámara | 1/3" CMOS Blanco/Negro o Color
Distancia de trabajo | Tipo 1–3: 50 mm; Tipo 4: 30 mm; Tipo TZ: (alto aumento) 11 mm / (bajo aumento) 32 mm; Tipo A: 73,5 mm (63 mm con AF láser)
Repetibilidad AF láser | 2σ ≤ 0,5 µm
Iluminación | Episcópico, diascópico, anillo segmentado de 8 con varios ángulos (LED blancos); opciones de campo oscuro según tipo
Alimentación / consumo | CA 100–240 V, 50/60 Hz / 2–4 A
Dimensiones y peso | Consultar entradas por modelo (chasis principal y controlador).

Especificaciones técnicas

• Serie: NEXIV VMZ‑S (VMZ‑S3020, VMZ‑S4540, VMZ‑S6555).
• Lectura mínima: 0,01 µm.
• AF láser TTL: escaneo hasta 1.000 puntos/s; repetibilidad 2σ ≤ 0,5 µm.
• Precisión de sondeo: P_FV2D,MPE 0,3 µm; P_F2D,MPE 0,8 µm.
• Iluminación: episcópico, diascópico, anillo segmentado y opciones de campo oscuro.
• Cámara: 1/3" CMOS (BN / color).
• Alimentación: CA100–240 V, 50/60 Hz.
• Huella y masa: varían según modelo; consulte las dimensiones por modelo para instalación.