Zócalo de prueba para dispositivo IC

para altas frecuencias

A medida que los dispositivos continúan reduciéndose y la densidad de empaquetado aumenta, la demanda de soluciones de prueba de paso fino de alto rendimiento nunca ha sido mayor. Los zócalos IC de paso fino de Seiken están diseñados para enfrentar este desafío, permitiendo a los ingenieros y fabricantes probar los dispositivos más compactos y complejos con confianza. En el corazón de nuestra solución se encuentra la tecnología de sonda sin tubo de Seiken, diseñada para soportar pasos tan finos como 130μm. Este diseño innovador ofrece un contacto robusto y confiable mientras mantiene una resistencia mecánica excepcional, incluso en las aplicaciones más exigentes de los entornos de prueba modernos. Nuestros zócalos IC de paso fino son una herramienta esencial para el desarrollo y prueba de electrónica de vanguardia. - Nuestros zócalos son totalmente personalizables para cumplir con requisitos no magnéticos, mecánicos personalizados y otros requisitos específicos, asegurando un rendimiento constante en una amplia gama de condiciones especializadas. - Fabricación flexible y de bajo volumen a partir de una sola unidad. Los equipos internos de ingeniería y producción ofrecen soluciones personalizadas con rapidez y precisión. Ejemplos de aplicación: - Chips de paso fino - Componentes discretos, entre otros Características clave y ventajas: - Diseñado para un rendimiento de paso fino: Personalizable para requisitos no magnéticos, mecánicos personalizados y otros. - Soporta pasos tan finos como 130μm con tecnología de sonda sin tubo. - Contacto robusto y confiable y resistencia mecánica excepcional. - Producción flexible desde una unidad: Adecuado para prototipos y fabricación de bajo volumen. Productos relacionados: - Tecnología de paso fino: Las sondas de paso fino de Seiken proporcionan pruebas confiables para dispositivos semiconductores avanzados, soportando pasos tan pequeños como 130µm. - Tarjeta de sonda de paso fino: Diseñada para diseños desafiantes como dispositivos WL-CSP y de pilar de cobre, capaz de manejar pasos tan pequeños como 130µm. - Soportes de sonda (accesorios de prueba personalizados): Esenciales para la sonda de precisión en pruebas de componentes electrónicos, asegurando una alineación perfecta y un contacto estable. Especificaciones técnicas / Características: - Paso soportado: tan fino como 130μm - Personalizable para requisitos no magnéticos y mecánicos - Producción flexible: desde una unidad - Contacto robusto y confiable - Adecuado para chips de paso fino y componentes discretos