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... fabricación de soluciones para pruebas de empaquetado sobre empaquetado (PoP). Complejo en su diseño, la prueba PoP requiere el acoplamiento simultáneo de la parte superior e inferior del CI. La solución ...
Smiths Interconnect
... El contacto Celsius de Smiths Interconnect aprovecha una trayectoria de señal ligeramente más larga para ofrecer ventajas significativas en cumplimiento, manejo de temperatura y capacidad de carga de corriente. Un contacto autónomo, Celsius ...
Smiths Interconnect
... única que ofrecen los diseños de sonda de resorte flotante de Smiths Interconnect permite un despliegue sin problemas en la prueba de paquetes de balanzas de chips a nivel de oblea. Trabajamos en estrecha colaboración ...
Smiths Interconnect
... almohadilla del dispositivo -Corto recorrido de la señal -Diseño de zócalo Tri-Temp para soportar desde -55 °C hasta +150 °C -Flexibilidad de diseño configurable para la integración en configuraciones ...
Smiths Interconnect
... optimizado basado en la aplicación de prueba - Diseño de zócalo Tri-Temp para soportar desde -55 °C hasta +160 °C - Diseñado para pruebas manuales, pruebas en banco y ...
Smiths Interconnect
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Smiths Interconnect
... Altura de prueba de 4,90 mm Impedancia ajustada para adaptarse al sistema Resistencia de contacto estable y constante 55 mΩ (promedio) Alojamiento de alta coplanaridad Diseño de zócalo tri-temp para soportar ...
Smiths Interconnect
... semiconductores, las obleas se dividen en paquetes como QFP, SOP, QFN y SON, y los zócalos para CI son esenciales para la inspección precisa de estos chips empaquetados. Ofrecemos zócalos para CI personalizados ...
Seiken Co., Ltd.
... Comprometido a apoyar zócalos IC personalizados y hechos a medida que se ajusten a necesidades precisas. - Ejemplos de aplicación: - Pruebas de precisión de brújulas electrónicas ...
Seiken Co., Ltd.
... del zócalo. Además, los diseños de zócalos pueden personalizarse para permitir la extracción de señales individuales para los terminales emisores y de puerta, incluso con disposiciones complejas de electrodos ...
Seiken Co., Ltd.
... las aplicaciones más exigentes de los entornos de prueba modernos. Nuestros zócalos IC de paso fino son una herramienta esencial para el desarrollo y prueba de electrónica ...
Seiken Co., Ltd.
... completa, asegurando una integración absoluta en su entorno de prueba. - Disposición flexible de pines para necesidades de prueba complejas: A diferencia de los sockets tradicionales, los sockets IC ...
Seiken Co., Ltd.
... Enchufe de prueba para paquete HU3PAK - Zócalos de prueba que maximizan el rendimiento de los MOSFET de SiC/GaN - Compatible con las pruebas de fiabilidad THB y HTRB - ...
JC CHERRY INC.
... HU3PAK Scokets + Juego de placas de prueba de evaluación Ahorre tiempo eliminando la necesidad de diseñar y adquirir zócalos y placas de circuito impreso por separado: configure rápidamente su entorno ...
JC CHERRY INC.
... Enchufe de prueba que permite medir la señal de transmisión a alta velocidad adoptando el método de contacto que presiona directamente el cable del dispositivo contra la placa. El "tipo de bloqueo por ...
JC CHERRY INC.
... TO-263-7/D2-PAK Scokets+Juego de placas de prueba de evaluación Ahorre tiempo eliminando la necesidad de diseñar y adquirir zócalos y placas de circuito impreso por separado: configure rápidamente su ...
JC CHERRY INC.
... del zócalo de prueba y el diseño de la placa de circuito según las condiciones de uso. Además de los zócalos de prueba, tenemos un historial probado en el diseño de ...
JC CHERRY INC.
... Enchufe de prueba y grabación Tamaño También puede utilizarse como toma de prueba ●Highly fiable M-pin Sondas como piezas de contacto alta frecuencia Para el dispositivo de BGA, dispositivo ...
JC CHERRY INC.
... Zócalos de alta frecuencia para evaluación de implementación de LSI Ideales para análisis de fallos, creación de prototipos y pruebas de señales de alta velocidad en placas de evaluación de LSI y placas ...
JC CHERRY INC.
... Enchufe de prueba GU29 Marco / QFN pkg Tamaño 29x30.6mm / 1.14 "x1.20" También se puede utilizar como Burn in Socket alta fiabilidad coste competitivo ●Temperatura: Para el dispositivo QFN Cómo hacer ...
JC CHERRY INC.
... Zócalo de prueba LPDDR tipo de alta durabilidad Para BGA,LGA paso o más Dispositivos aceptables : MDDR, LPDDR2, LPDDR3, LPDDR4, LPDDR4X, LPDDR5 LPDDR (Low Power Double Data Rate) es ...
JC CHERRY INC.
... superficie, el zócalo de prueba de RF se puede utilizar para una variedad de dispositivos IC e incluso para ubicaciones de pines irregulares. Características: - Para ...
JC CHERRY INC.
... Las tomas de prueba de base no flotante son comunes para probar QFN y otros dispositivos sin plomo. Son un diseño de dos piezas que sostiene pasadores de resorte o juegos de contactos elastoméricos entre ...
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