Detector óptico MIV-X

por ultrasonidostérmicopara cámara

Descripción general
La detección óptica de defectos por ultrasonidos permite visualizar defectos internos próximos a la superficie (aprox. 1 mm de profundidad) que son difíciles de detectar con ensayos ultrasonidos convencionales. El MIV-X combina un oscilador ultrasónico con iluminación estroboscópica y una cámara mediante la técnica de imagen luminosa propietaria de Shimadzu para detectar ópticamente el desplazamiento superficial y visualizar la propagación de ondas ultrasónicas. Adecuado para inspeccionar grietas, vacíos, delaminación, despegue de adhesivos, pintura, recubrimientos por proyección térmica y uniones en estructuras multimateriales.

Inspección visual rápida

• Fije el oscilador ultrasónico a la muestra y sitúe la cámara sobre la zona de inspección.
• La propagación de las ondas se muestra en vídeo, permitiendo la identificación visual rápida de defectos.
• El software intuitivo permite señalizar defectos y medir tamaños directamente en imágenes/vídeos.
• El Optical Zoom Set opcional reduce el tamaño mínimo detectable para localizar defectos más pequeños.

Cómo funciona
El sistema detecta ópticamente los desplazamientos superficiales mínimos causados por las ondas ultrasónicas. Al sincronizar el oscilador ultrasónico con la iluminación estroboscópica, la propagación en superficie se hace visible en imágenes o vídeos. El operador puede marcar defectos y medir distancias entre puntos para determinar ubicación y tamaño.

Características clave

• Técnica de imagen luminosa propietaria de Shimadzu: detección óptica del desplazamiento de la superficie inducido por ultrasonidos.
• Diseñado para defectos próximos a la superficie cuando las pruebas ultrasónicas convencionales son insuficientes.
• Función de eliminación digital de ruido que facilita la identificación de defectos en la ventana de visualización.
• Escala en imagen y herramientas de medición de distancia para análisis dimensional directo.
• Optical Zoom Set opcional: reducción aproximadamente doble del tamaño mínimo detectable (de ~1 mm a ~0,5 mm) con ajuste del eje óptico láser para mejorar la uniformidad de irradiación.
• Software fácil de usar para marcar y medir defectos en imágenes/vídeos.

Aplicaciones / Industrias
Empleada en I+D y en inspección de calidad de ensamblajes multimateriales donde se requiere detección de defectos próximos a la superficie (~1 mm). Particularmente útil para uniones adhesivas, componentes en capas o revestidos y estructuras que requieren optimización de peso y resistencia.

Especificaciones técnicas

• Brand: Shimadzu
• Model: MIV-X
• Principio de imagen: oscilador ultrasónico combinado con detección óptica estroboscópica (imagen luminosa propietaria)
• Profundidad de visualización: defectos próximos a la superficie, aprox. 1 mm
• Tamaño mínimo detectable (estándar): aprox. 1 mm de diámetro
• Tamaño mínimo detectable (Optical Zoom opcional): aprox. 0,5 mm de diámetro
• Funciones: eliminación digital de ruido, herramientas de marcado, escala en imagen, medición de distancias
• Funcionamiento: fijar el oscilador a la muestra, posicionar la cámara sobre la superficie de inspección, observar la propagación ultrasónica en vídeo/imagenes
• Objetivos de inspección: grietas, vacíos, delaminación, despegue de adhesivos, pinturas y recubrimientos por proyección térmica, uniones en multimateriales
• Técnica de inspección no destructiva
• Destinado a uso en investigación; no para procedimientos médicos diagnósticos