ResumenSistema de evaluación para medir las propiedades de materiales en microregiones (semiconductores, LSI, cerámicas, discos duros, películas depositadas por vapor y recubrimientos finos) y para la evaluación de la dureza de plásticos y elastómeros. El equipo registra la profundidad de indentación dinámica durante la carga, no la huella residual posterior al ensayo, lo que permite medir películas muy finas y capas de superficie/tratamiento. Los datos dinámicos también proporcionan la información necesaria para calcular el módulo elástico de las muestras.
Características- Evaluación de dureza y parámetros de material conforme a normas (ISO 14577-1, Anexo A)
- Evaluación de alta precisión del módulo elástico
- Capacidad de ensayo a baja fuerza con resolución de medida de 0,196 μN
Descargas (seleccionadas)- Soluciones de análisis para plásticos reciclados (folleto, PDF)
- DUH-211/211S - Dynamic Ultra Micro Hardness Testers (folleto, PDF)
- Instrumentos para la evaluación de dispositivos electrónicos (folleto, PDF)
- Manual de instrucciones (PDF)
- Manual del software (PDF)
Aplicaciones (seleccionadas)- Evaluación multifacética de cambios en las propiedades físicas de plásticos reciclados mediante procesos avanzados de reciclaje (casos)
- Ejemplos de aplicación en polipropileno degradado o simulado degradado y en polietileno reciclado
- Caracterización de materiales para películas finas, recubrimientos y superficies de dispositivos en I+D de semiconductores y electrónica
Especificaciones técnicas- Modelo: DUH-210/DUH-210S (Dynamic Ultra Micro Hardness Tester)
- Método de medida: medida dinámica de la profundidad de indentación durante la indentación (no post-indentación)
- Salidas de datos aptas para el cálculo del módulo elástico de las muestras
- Normas: evaluación conforme a ISO 14577-1 (Anexo A)
- Resolución de medida: 0,196 μN (capacidad de baja fuerza)
- Aplicaciones típicas: semiconductores, LSI, cerámicas, discos duros, películas depositadas por vapor, recubrimientos finos, plásticos, elastómeros
- Permite medir películas muy finas y capas de superficie/tratamiento no medibles con durómetros convencionales