Zócalo de prueba QFN Kepler

manual

Tecnología de contacto de fregado de alto rendimiento para CI periféricos La tecnología de contacto Kepler combina el movimiento de fregado de un contacto en voladizo con la versatilidad y modularidad de una sonda de resorte. El diseño incluye un movimiento horizontal durante la carrera descendente del dispositivo para eliminar los óxidos superficiales, proporcionar un contacto estable y fiable, y no causar daños a la placa de circuito impreso. Características y ventajas Características técnicas: -Para comprobar LGA, QFN, QFP y otras variantes -La acción de fregado elimina los óxidos superficiales de la almohadilla del dispositivo -Corto recorrido de la señal -Diseño de zócalo Tri-Temp para soportar desde -55 °C hasta +150 °C -Flexibilidad de diseño configurable para la integración en configuraciones de hardware existentes -Diseñado para pruebas manuales, pruebas en banco y pruebas de producción HVM -Carcasa aislante de poliamida de alto rendimiento -Ocupa poco espacio Ventajas: -Larga vida útil del contacto, bajo desgaste, probado con más de 500.000 inserciones -Proporciona un contacto fiable y consistente para pastillas de estaño mate o NiPdAu, bajo Cres consistente -Excepcional integridad de la señal -Cubre una amplia gama de aplicaciones de prueba -Se adaptan a la huella del zócalo de PCB existente y al hardware de prueba, lo que supone un ahorro de costes para los clientes -Reparable in situ, fácil limpieza y mantenimiento -Baja constante dieléctrica, bajo CLTE, módulo de flexión excepcional -Permite colocar los componentes de la parte superior de la placa de circuito impreso cerca del dispositivo de prueba para mejorar el rendimiento de la señal y reducir la pérdida de señal