Microscopio SEM Phenom ParticleX AM

para análisisde medidaspara control de calidad

Si desea aumentar la calidad y precisión de sus pruebas de polvo aditivo, con análisis más detallados y mediciones de tamaño precisas, el SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ParticleX AM puede ayudarle. Tanto para los procesos de fabricación aditiva (AM) con lecho de polvo como con alimentación de polvo, puede ayudarle a analizar las características críticas de los polvos metálicos a microescala. Además, le permite trabajar con hasta 49 muestras simultáneamente. Pero lo que realmente diferencia a este sistema es el software integrado Thermo Scientific Perception, que encuentra e identifica automáticamente restos, partículas esféricas o alargadas y otras partículas, demostrando así la calidad del polvo. A continuación, proporciona informes industriales concisos que convierten los datos brutos en respuestas claras e imparciales para usted y su equipo. El SEM de sobremesa Phenom ParticleX AM viene con espectroscopia de rayos X de energía dispersiva (EDS) integrada para un análisis composicional avanzado. Y puede añadir un detector de electrones secundarios (SED), que recoge electrones de baja energía de la capa superficial superior de la muestra para proporcionar información detallada de la superficie. visión general Cumpla los estándares de calidad industrial con confianza Con el SEM de sobremesa Phenom ParticleX AM puede analizar la composición y el tamaño de las partículas, así como los parámetros de forma (diámetro, perímetro, relación de aspecto, rugosidad y diámetro de Feret), todo ello a microescala y con mucha mayor precisión que otras tecnologías. Rendimiento líder del sector El SEM de sobremesa Phenom ParticleX AM ofrece un rendimiento rápido, para que pueda hacer más con el microscopio y aumentar el tiempo del ciclo de producción.