Espectrómetros HELMUT FISCHER

• Análisis de baños galvánicos y medición del espesor del recubrimiento con fluorescencia de rayos X según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • El punto de medición más pequeño con el XULM & nbsp; aprox. 0,1 mm; punto de medición más pequeño ...

... perfectamente adecuado para medir recubrimientos galvánicos en piezas producidas en masa como tuercas y pernos. Todos los espectrómetros de rayos X de la serie XUL / XULM son fáciles e intuitivos de emplear. Las muestras ...

... detector de deriva de silicio (SDD) de alta calidad ofrece una mejor resolución energética que el diodo PIN de silicio. Los espectrómetros XDAL & nbsp; equipados de este modo se utilizan para resolver tareas de medición ...

• Espectrómetros de fluorescencia de rayos X para análisis de metales y metales preciosos, medición de espesores de recubrimiento y detección de RoHS según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • Detectores de semiconductores premium ...

• Prueba de oro no destructiva, rápida y precisa • Amplia cámara de medición • Diseño compacto y robusto, para uso a largo plazo • No se necesita preparación de muestra. Simplemente coloque el artículo en la ventana de medición en ...

... Análisis, determinación del valor y comprobación de la autenticidad. Robusto dispositivo XRF de sobremesa optimizado para el análisis más potente, rápido y no destructivo de joyas, monedas y metales preciosos, también apto para piezas ...

... recubrimiento y el análisis de material XRF de muestras con geometrías complejas es sencilla. A medida que se usa desde espectrómetros XRF de Fischer , el XDAL 600 es universalmente aplicable. Presenta una apertura ...

• Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con dispersión de energía para el análisis automatizado de materiales y la medición no destructiva del espesor del recubrimiento de acuerdo con ISO 3497 y ASTM B 568 & nbsp; • ...

... / PCB • Recubrimientos en conectores y contactos en la industria electrónica como Au / Ni / Cu y Sn / Ni / Cu Los espectrómetros FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® y XDLM® están estrechamente relacionados con la serie XUL ...

El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD es uno de los instrumentos de fluorescencia de rayos X más potentes de Fischer . Este espectrómetro XRF está equipado con un potente detector de deriva de silicio (SDD) de alta resolución ...

Medidor por fluorescencia de rayos X robusto y económico para el análisis no destructivo de materiales y la medición de espesores de recubrimientos

Medidor por fluorescencia de rayos X para un análisis rápido y no destructivo de aleaciones de oro y plata

Medidor por fluorescencia de rayos X para la medición manual o automática de espesores de recubrimiento de capas funcionales, capas de protección anticorrosiva y piezas de fabricación en masa.

Medidor por fluorescencia de rayos X con mesa X/Y programable y eje Z para la medición automática de espesores de recubrimiento y para el análisis de materiales Ámbitos de aplicación típicos Análisis de materiales de recubrimientos ...

Medidor por fluorescencia de rayos X para las máximas exigencias, con mesa X/Y programable y eje Z para la medición automática de capas muy finas y para el análisis de trazas

Medidor por fluorescencia de rayos X con óptica de rayos X policapilar para la medición y el análisis automáticos de espesores y composiciones de recubrimientos en los componentes y estructuras más pequeños.

Portátil, sobremesa o en línea: el instrumento XAN®500, basado en la fluorescencia de rayos X, es el equipo XRF más versátil de Fischer. Se puede utilizar tanto como un dispositivo portátil como una unidad de sobremesa totalmente cerrada ...

Sistema de medición por fluorescencia de rayos X para la medición en línea y el análisis continuados de recubrimientos delgados, como CIGS, CIS o CdTe en el proceso de producción

Los instrumentos de medición de la serie XUL® son la solución ideal cuando se necesite determinar el grosor de recubrimiento de manera rápida y precisa en la industria de galvanoplastia y fabricación electrónica. Los instrumentos por ...

Con ejes accionados por motor (opcional) y dirección de medición de arriba a abajo, los instrumentos de medición de la gama XDL® permiten pruebas en serie automatizadas. Gracias a las distintas versiones – que se diferencian por su fuente ...