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• Análisis de baños galvánicos y medición del espesor del recubrimiento con fluorescencia de rayos X según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • El punto de medición más pequeño con el XULM & nbsp; aprox. 0,1 mm; punto de medición más pequeño ...
HELMUT FISCHER SRL
... perfectamente adecuado para medir recubrimientos galvánicos en piezas producidas en masa como tuercas y pernos. Todos los espectrómetros de rayos X de la serie XUL / XULM son fáciles e intuitivos de emplear. Las muestras ...
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• Espectrómetros de fluorescencia de rayos X para análisis de metales y metales preciosos, medición de espesores de recubrimiento y detección de RoHS según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • Detectores de semiconductores premium ...
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• Prueba de oro no destructiva, rápida y precisa • Amplia cámara de medición • Diseño compacto y robusto, para uso a largo plazo • No se necesita preparación de muestra. Simplemente coloque el artículo en la ventana de medición en ...
HELMUT FISCHER SRL
... Análisis, determinación del valor y comprobación de la autenticidad. Robusto dispositivo XRF de sobremesa optimizado para el análisis más potente, rápido y no destructivo de joyas, monedas y metales preciosos, también apto para piezas ...
HELMUT FISCHER SRL
... recubrimiento y el análisis de material XRF de muestras con geometrías complejas es sencilla. A medida que se usa desde espectrómetros XRF de Fischer , el XDAL 600 es universalmente aplicable. Presenta una apertura ...
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• Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con dispersión de energía para el análisis automatizado de materiales y la medición no destructiva del espesor del recubrimiento de acuerdo con ISO 3497 y ASTM B 568 & nbsp; • ...
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espectrómetro de fluorescencia de rayos XFISCHERSCOPE® XDLM®
... / PCB • Recubrimientos en conectores y contactos en la industria electrónica como Au / Ni / Cu y Sn / Ni / Cu Los espectrómetros FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® y XDLM® están estrechamente relacionados con la serie XUL ...
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... detector de deriva de silicio (SDD) de alta calidad ofrece una mejor resolución energética que el diodo PIN de silicio. Los espectrómetros XDAL & nbsp; equipados de este modo se utilizan para resolver tareas de medición ...
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El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD es uno de los instrumentos de fluorescencia de rayos X más potentes de Fischer . Este espectrómetro XRF está equipado con un potente detector de deriva de silicio (SDD) de alta resolución ...
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