Microscopios EBSD

Resolución espacial: 0,7, 1, 0,6 nm

... Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico de barrido Verios 5 XHR El microscopio ...

Aumento: 6 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Ancho: 340 mm

... cualquier SEM de Thermo Scientific e incluye tres modos de vacío que admiten la desgasificación y las muestras no compatibles con el vacío. Ofrece resultados de alta resolución gracias a un cañón de emisión de campo (FEG) ...

Resolución espacial: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Ancho: 340 mm

... estas tecnologías significa que los usuarios que se inician en la microscopía electrónica pueden acceder al rendimiento de alta gama del SEM Apreo 2. Además, el Apreo 2 SEM es el único ...

Resolución espacial: 0,7 nm - 1,8 nm
Peso: 5 kg
Ancho: 340 mm

... cargar las muestras. Todo ello le ayuda a usted y a su equipo a ser mucho más productivos. visión general Funciones de imagen SEM mejoradas Eleve los resultados de sus imágenes a nuevas cotas con funciones innovadoras ...

Resolución espacial: 1.030, 515 nm

... el fresado por haz de iones focalizado en plasma con la ablación por láser de femtosegundo y la obtención de imágenes SEM (microscopía electrónica de barrido). Esta combinación "TriBeam" permite obtener ...

Resolución espacial: 0,7, 1,2, 1,4 nm
Peso: 5 kg

... FIB-SEM versátil de alto rendimiento con automatización avanzada El Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM es un microscopio electrónico de barrido de haz de iones (FIB-SEM) avanzado y de resolución ultra alta con enfoque ...

Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg

CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También tiene una gran ...

Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 0,8 nm - 1,3 nm
Peso: 950 kg

... , R: 360° -Detectores y extensiones SEM Estándar：Detector de electrones de lente interna/Detector Everhart-Thornley (ETD) Opcional：Detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED) Microscopio ...

Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño de lente magnética ...

Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4,5, 3,9 nm

... Especificaciones del microscopio SEM CIQTEK SEM2100 Óptica de electrones Resolución: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm @ 20 kV, BSE Tensión de aceleración: 0,5 kV ~ 30 kV Aumento (Polaroid): ...

Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 0,6 nm - 1 nm
Peso: 400 kg

CIQTEK SEM5000X es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) de resolución ultraalta con una resolución innovadora de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Al beneficiarse del proceso de ingeniería ...

Resolución espacial: 3, 0,9, 1,6 nm

CIQTEK DB500 es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras, que se aplica con tecnología “SuperTunnel”, baja aberración ...

Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... Detectores y extensiones SEM - Estándar: Detector de electrones en lente: UD-BSE/UD-SE Detector Everhart-Thornley: LD Opcional: Detector de electrones retrodispersados (BSED) Detector retráctil ...