Microscopios Jeol
& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositor{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

... usuarios obtener imágenes de alta calidad mediante operaciones sencillas, incluso para quienes nunca antes han utilizado un microscopio electrónico. Características Alto rendimiento -Aumento de la productividad para ...
Jeol

... Lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico de resolución atómica El "GRAND ARM™2" ha sido actualizado. Este nuevo "GRAND ARM™2" permite la observación a una resolución espacial ultra alta con análisis de alta sensibilidad ...
Jeol

... Una visibilidad clara fomenta nuevos descubrimientos Hoy en día, no sólo se considera importante la resolución y el rendimiento analítico en el orden nanométrico, sino también el rendimiento en la adquisición de datos. El recién nacido ...
Jeol

... búsqueda y proporcionar una alerta para los elementos objetivo. - Automatización para una mayor productividad "Simple SEM Simple SEM automatiza la recogida de imágenes en múltiples ubicaciones, condiciones ...
Jeol

... cualquier operador preparar muestras para TEM sin problemas. Imágenes SEM de ALTA RESOLUCIÓN y ALTO CONTRASTE Deje de dudar, deje de perderse el punto final en el fresado. Las imágenes SEM de alta calidad ...
Jeol

... trabajo de criocLEM con el cartucho CRYO ARM™ utilizando una crioestación fabricada por Linkam Scientific Instruments* y un microscopio de fluorescencia fabricado por Nikon Solutions*. Las coordenadas de la platina de ...
Jeol

... JSM-IT810, manejar un SEM de EF nunca ha sido tan fácil. La observación SEM y el análisis EDS pueden automatizarse simplemente ajustando las condiciones de análisis y seleccionando las áreas a medir. Paquete ...
Jeol

Aumento: 50 unit - 1.500.000 unit
Resolución espacial: 0,14, 0,2 nm
... Con la drástica reducción de tamaño, la JEM-120i tiene una posición de sustitución del filamento y de inserción del portamuestras más baja que los instrumentos existentes. Una unidad de filamento tipo cartucho de nuevo desarrollo ayuda ...
Jeol

... adquiere imágenes filtradas de energía y espectros de pérdida de energía. Las imágenes de pérdida cero adquiridas con el microscopio proporcionan un alto contraste con aberración cromática reducida. ...
Jeol

Resolución espacial: 0,08 nm - 0,23 nm
... que facilita la observación de materiales con elementos ligeros, incluso con voltajes de aceleración bajos. La sala del microscopio está separada de la sala de operaciones para responder a una operación remota. Además, ...
Jeol
& encuentre a todos sus clientes en un solo lugar durante todo el año
Hacerse expositorSus sugerencias de mejora:
¡Suscríbase a nuestra Newsletter!
Recibirá todas las novedades de esta sección cada 15 días
Consulte nuestra Política de Confidencialidad para conocer cómo DirectIndustry trata sus datos personales
- Lista de marcas
- Cuenta de Fabricante
- Cuenta de Comprador
- Nuestros servicios
- Inscripción newsletter
- Acerca de VirtualExpo Group
¿Cuáles?
Ayúdenos a mejorar:
caracteres restantes