Microscopios de electronos retrodispersados

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microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom XL G3

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 µm - 10 µm

... Un SEM de cámara grande de eficacia probada para la obtención rápida de imágenes y el análisis de materiales El SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom XL G3 sienta las bases para un control de calidad y un análisis ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio de rayos X
microscopio de rayos X
Phenom Pro G6

Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6, 5, 20, 10 nm
Peso: 50 kg

... plazo. Estos SEM ofrecen resultados fiables y uniformes con mayor rapidez. Incluso los usuarios principiantes pueden obtener imágenes de alta resolución en cuestión de minutos, ayudándole a usted y a su equipo a ser más productivos. SEM ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Phenom ProX G6

Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6 nm

... plazo. Estos SEM ofrecen resultados fiables y uniformes con mayor rapidez. Incluso los usuarios principiantes pueden obtener imágenes de alta resolución en cuestión de minutos, ayudándole a usted y a su equipo a ser más productivos. SEM ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio de rayos X
microscopio de rayos X
Phenom Pure G6

Aumento: 160 unit - 175.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 15 nm
Peso: 50 kg

... rayos X. Características SEM de sobremesa con una fuente de electrones duradera y una calidad de imagen excepcional Disponible en tres configuraciones para llevarle desde tareas básicas hasta análisis avanzados, los ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio para batería
microscopio para batería
Phenom ParticleX

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm
Peso: 75 kg

... rendimiento que otros SEM El SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery ofrece una velocidad y precisión extraordinarias. Ofrece un rendimiento ultrarrápido que es hasta 10 veces más rápido que los ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio de rayos X
microscopio de rayos X
Phenom ParticleX TC

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm
Peso: 75 kg

... hacerlo, especialmente en entornos de fabricación exigentes como la automoción. En comparación con los microscopios ópticos tradicionales, nuestro SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ParticleX TC no solo le permite ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio electrónico
microscopio electrónico
Phenom Pharos G2

Aumento: 2.000.000 unit
Resolución espacial: 10, 3, 2, 200, 400 nm
Peso: 75 kg

... ventajas en parte gracias a su fuente de electrones. Utiliza un cañón de emisión de campo, en el que un pequeño campo electromagnético extrae electrones de la fuente. Esto le permite controlar mejor el microscopio ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio de rayos X
microscopio de rayos X
Axia ChemiSEM

Resolución espacial: 7, 3, 8, 20 nm
Peso: 10 kg

... El sistema Thermo Scientific Axia ChemiSEM fue diseñado para eliminar la complejidad de la microscopía y ayudarle a elevar su análisis elemental cuantitativo. Con una fuente de tungsteno y capacidades de espectroscopia de rayos X de energía ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio electrónico de transmisión y barrido
microscopio electrónico de transmisión y barrido
SU9000 II

Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible gracias a la exclusiva óptica ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
SU8700

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,6 nm

... Equipado de serie con una esclusa para muestras de 150 mm, el SU8700 ofrece un alto rendimiento de muestras, incluso para las más grandes, y un entorno de cámara de muestras constantemente limpio para obtener imágenes de alta resolución y baja contaminación. ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
SU8600

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm

... El SU8600 es el sucesor de la acreditada familia de SEM de emisión de campo Regulus y cumple los requisitos más exigentes para aplicaciones orientadas a la obtención de imágenes. El emisor de campo frío con su emisión casi monocromática, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
SU7000

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm

... El SU7000 es ideal para muestras grandes o pesadas y para integrar una amplia gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] / compresión, calentamiento/enfriamiento, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
SU3800/3900 Family

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm

... Características del producto: - Detectores Hitachi de alta eficiencia: -- Detector de electrones secundarios para alto vacío -- Detector de electrones retrodispersados semiconductor de 5 segmentos ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
FlexSEM II

Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 15 nm

... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera invertir en un SEM ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio SEM
microscopio SEM
TM4000PlusIII

Aumento: 10 unit - 250.000 unit

... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite obtener imágenes de muestras en el menor tiempo posible ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio SEM
microscopio SEM
CEM3000A

Aumento: 40 unit - 300.000 unit
Resolución espacial: 4 nm - 8 nm
Peso: 120 kg

... 4 nm (SE), ≤ 8 nm (BSE) @20 kV

  • Voltaje de aceleración: 1 kV–20 kV
  • Detectores: Electrón secundario (SE) — estándar; Electrón retrodispersado (BSE) — estándar (sonda de alta resolución
  • ...

    microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
    microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
    SEM5000Pro

    Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
    Resolución espacial: 0,8 nm - 1,3 nm
    Peso: 950 kg

    ... , R: 360° -Detectores y extensiones SEM Estándar:Detector de electrones de lente interna/Detector Everhart-Thornley (ETD) Opcional:Detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED) ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
    microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
    SEM4000Pro

    Aumento: 1.000.000 unit
    Resolución espacial: 0,9 nm - 2,5 nm

    ... CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño de lente magnética ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscopio electrónico de barrido
    microscopio electrónico de barrido
    SEM2100

    Aumento: 300.000 unit
    Resolución espacial: 4,5, 3,9 nm

    ... Detectores SEM Estándar: Detector Everhart-Thornley (ETD) Opcional: Detector retráctil de electrones retrodispersados (BSED) Espectrómetro de energía dispersiva (EDS / EDX) ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
    microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
    SEM5000X

    Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
    Resolución espacial: 0,6 nm - 1 nm
    Peso: 400 kg

    ... CIQTEK SEM5000X es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) de resolución ultraalta con una resolución innovadora de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Al beneficiarse del proceso de ingeniería de columnas mejorado, ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscopio electrónico de barrido con haz iónico focalizado
    microscopio electrónico de barrido con haz iónico focalizado
    DB550

    Resolución espacial: 3, 0,9, 1,6 nm

    ... CIQTEK DB500 es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras, que se aplica con tecnología “SuperTunnel”, baja aberración y diseño de lente ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscopio con filamento de tungsteno
    microscopio con filamento de tungsteno
    SEM 3300

    Aumento: 1 unit - 300.000 unit
    Resolución espacial: 2,5 nm - 5 nm
    Largo: 926 mm

    ... Rango T: - 10° ~ 90 Alcance R 360° *Detectores SEM Estándar: Detector de electrones en lente (Inlens) Detector Everhart-Thornley (ETD) Opcional: Detector retráctil de electrones retrodispersados ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
    microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
    HEM6000

    Aumento: 66 unit - 1.000.000 unit
    Resolución espacial: 1,3 nm
    Largo: 1.716 mm

    ... Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad para la obtención de imágenes a escala transversal de muestras de gran volumen CIQTEK HEM6000 cuenta con tecnologías como el cañón de electrones de corriente de haz ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
    microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
    SEM4000X

    Aumento: 1.000.000 unit
    Resolución espacial: 0,9, 1,2, 1,9 nm

    ... Detectores y extensiones SEM - Estándar: Detector de electrones en lente: UD-BSE/UD-SE Detector Everhart-Thornley: LD Opcional: Detector de electrones retrodispersados ...

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