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Sistemas de prueba para investigación y desarrollo
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... Descripción general
La Serie EMT es un
sistema de ensayos de fatiga y resistencia por fuerza electromagnética que realiza
pruebas de carga repetida a alta velocidad mediante un actuador electromagnético de accionamiento ...
sistema de prueba para la industria electrónicaDMT EVO
... programas de
prueba.
Ventajas clave
- Huella extremadamente reducida que permite alta densidad de recursos en entornos de laboratorio y preproducción.
- Generador automático Kronos para acortar el tiempo de
sistema de prueba de envejecimientoHatina WLBI
... Hatina WLBI es una solución de Burn-In a nivel wafer (WLBI) y HTOL diseñada para dispositivos de potencia sobre oblea. La cámara de prueba compacta (huella nominal 560×560×550 mm; ficha técnica D×W×H 560×560×560 mm) se ...
... Descripción general
VIP Extended es un
sistema configurable de Equipo de
Prueba Automática (ATE) para el ensayo paralelo de dispositivos de potencia en silicio, SiC y GaN. Diseñado para wafer sort, strip test, ...
sistema de prueba tensión de choquePST6747Ai series
... br>
- PST6747Ai: alta precisión, orientado a I+D; los informes de prueba incluyen curvas características y parámetros detallados.
- PST6747Ai-F: alta precisión para pruebas de producto en fábrica antes de la
... desatendidas y pruebas cíclicas repetibles.
Composición ...
... Este sistema de instrumento consta de: electroimán, fuente de alimentación electroimán, fuente de corriente constante de alta precisión voltímetro de alta precisión, medidor de Gauss, soporte de muestra de efecto Hall, muestra estándar, ...
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sistema de prueba de vibraciones mecánicasUN38.3-BE-EV-203
... La mesa de ensayo de vibraciones también se denomina Sistema de ensayo de vibraciones El sistema de ensayo de vibraciones es una simulación de los distintos entornos que se encuentran en las fases de fabricación, montaje, ...
... casos de uso
- Pruebas funcionales de módulos VCSEL: pruebas LIV sincronizadas y de alta velocidad
- Pruebas funcionales de dispositivos semiconductores: validación de sensores, CI
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