Descripción del productoEl sistema de ensayo dinámico SiC MX700D está compuesto por una fuente de alimentación CC programable de alta precisión, unidad de fixtura, unidad de medida y control, unidad de control de drivers, unidad de protección e instrumentos de prueba auxiliares. Emplea un software de pruebas desarrollado por la empresa para ofrecer una plataforma de ensayo estable y precisa de los parámetros dinámicos de dispositivos SiC.
Características- Funciones de prueba completas: admite pruebas de un solo pulso, doble pulso, cortocircuito y carga por fallo;
- Protección contra sobrecorriente: corta rápidamente el circuito de corriente en caso de fallo del dispositivo;
- Muy baja inductancia en serie: diseño compacto del lazo que minimiza la inductancia en serie para cumplir los requisitos de ensayo de SiC;
- Alta compatibilidad: admite varios encapsulados y circuitos mediante la adaptación de diferentes fixturas;
- Múltiples unidades de driver independientes: garantizan la consistencia entre canales en pruebas multiunidad;
- Interfaz hombre-máquina intuitiva para una operación sencilla.
Especificaciones / Detalles técnicos- Modelo: MX700D (sistema de ensayo dinámico SiC)
- Componentes: fuente de alimentación CC programable, unidad de fixtura, unidad de medida y control, unidad de control de drivers, unidad de protección e instrumentos de prueba auxiliares
- Tipos de prueba soportados: un solo pulso, doble pulso, prueba de cortocircuito, prueba de carga por fallo
- Protección: protección contra sobrecorriente que interrumpe rápidamente el circuito de corriente ante fallo del dispositivo
- Característica del lazo: diseño de baja inductancia en serie adecuado para pruebas dinámicas de SiC
- Compatibilidad: soporta múltiples encapsulados y circuitos mediante fixturas intercambiables/compatibles
- Drive: múltiples canales de driver independientes para asegurar la consistencia entre canales
- Software: software de pruebas desarrollado internamente que proporciona una plataforma de ensayo estable y precisa