Sistema de prueba in situ MX700D SiC
de precisión

Sistema de prueba in situ - MX700D SiC - Hefei Kewell Power System Co., Ltd. - de precisión
Sistema de prueba in situ - MX700D SiC - Hefei Kewell Power System Co., Ltd. - de precisión
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Características

Forma
in situ
Otras características
de precisión

Descripción

Descripción del producto
El sistema de ensayo dinámico SiC MX700D está compuesto por una fuente de alimentación CC programable de alta precisión, unidad de fixtura, unidad de medida y control, unidad de control de drivers, unidad de protección e instrumentos de prueba auxiliares. Emplea un software de pruebas desarrollado por la empresa para ofrecer una plataforma de ensayo estable y precisa de los parámetros dinámicos de dispositivos SiC.

Características
  • Funciones de prueba completas: admite pruebas de un solo pulso, doble pulso, cortocircuito y carga por fallo;
  • Protección contra sobrecorriente: corta rápidamente el circuito de corriente en caso de fallo del dispositivo;
  • Muy baja inductancia en serie: diseño compacto del lazo que minimiza la inductancia en serie para cumplir los requisitos de ensayo de SiC;
  • Alta compatibilidad: admite varios encapsulados y circuitos mediante la adaptación de diferentes fixturas;
  • Múltiples unidades de driver independientes: garantizan la consistencia entre canales en pruebas multiunidad;
  • Interfaz hombre-máquina intuitiva para una operación sencilla.


Especificaciones / Detalles técnicos
  • Modelo: MX700D (sistema de ensayo dinámico SiC)
  • Componentes: fuente de alimentación CC programable, unidad de fixtura, unidad de medida y control, unidad de control de drivers, unidad de protección e instrumentos de prueba auxiliares
  • Tipos de prueba soportados: un solo pulso, doble pulso, prueba de cortocircuito, prueba de carga por fallo
  • Protección: protección contra sobrecorriente que interrumpe rápidamente el circuito de corriente ante fallo del dispositivo
  • Característica del lazo: diseño de baja inductancia en serie adecuado para pruebas dinámicas de SiC
  • Compatibilidad: soporta múltiples encapsulados y circuitos mediante fixturas intercambiables/compatibles
  • Drive: múltiples canales de driver independientes para asegurar la consistencia entre canales
  • Software: software de pruebas desarrollado internamente que proporciona una plataforma de ensayo estable y precisa

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.