Sistema de prueba de funcionamiento MX700KGD-600

para IGBTin situautomático

Introducción del producto
La serie MX700KGD es un sistema de cribado de pruebas dinámicas/estáticas automatizado para dies desnudos, orientado principalmente a chips SiC MOS e IGBT. El sistema está compuesto por el chasis de prueba, equipos de automatización y el conjunto de tarjeta de sondas, y mide la corriente y tensión nominales para evaluar el rendimiento eléctrico y la integridad del die.

Operación
El mecanismo de elevación de la estación de prueba eleva el portadie hasta que la tarjeta de sondas contacta el die. La cámara de presión de la tarjeta de sondas está sellada y realiza la calibración automática de la altura del die para asegurar un contacto estable.

Ficha técnica
Parámetros técnicos de pruebas dinámicas
Parámetros técnicos de pruebas estáticas

Características

• Cobertura de pruebas completa con funciones configurables según los requisitos del cliente, incluyendo inspección visual y pruebas dinámicas/estáticas a alta o ambiente de temperatura;
• Capacidad de alta tensión y alta corriente para realizar pruebas según las especificaciones nominales de los dies desnudos;
• Bajas parasitarias: inductancia parasitaria del sistema inferior a 20 nH;
• Alta productividad: UPH de prueba hasta 600 piezas o más;
• Protección por gas para evitar arcos y oxidación durante las pruebas.

Características / Detalles técnicos

• Dispositivos aplicables: cribado dinámico/estático para dies de potencia como SiC MOS e IGBT;
• Composición del sistema: chasis de prueba, equipos de automatización (portadie, mecanismo de elevación) y conjunto de tarjeta de sondas;
• Capacidad de prueba: medición de corriente nominal y tensión nominal y realización de cribado conforme/no conforme;
• Elevación y contacto: la elevación de la estación impulsa el portadie hasta el contacto de la sonda; la cámara de presión de la tarjeta de sondas garantiza un contacto sellado y estable;
• Calibración automática: función de calibración automática de la altura del die;
• Características eléctricas: admite pruebas de alta tensión y alta corriente para cumplir con las especificaciones nominales de los dies desnudos;
• Parámetros parasitarios: inductancia parasitaria del sistema < 20 nH;
• Rendimiento: UPH de prueba ≥600 piezas/hora;
• Protección: blindaje gaseoso para evitar arcos y oxidación durante las pruebas;
• Configurabilidad: funciones de prueba y configuración personalizables según el cliente, soporte para inspección visual y pruebas dinámicas/estáticas a diversas temperaturas.