Resumen del productoLa serie MX300R es un sistema de ensayo de envejecimiento por esfuerzo de tensión a alta temperatura en polarización inversa. Integra unidad de calefacción, control de temperatura, fuentes de alta/baja tensión y unidades de control y adquisición de datos. Está diseñado para realizar ensayos de envejecimiento por esfuerzo de tensión en dispositivos de potencia (IGBT, SiC, MOSFET, diodo) para evaluar la fiabilidad bajo estrés térmico y eléctrico.
Características clave- Alta precisión de medida: selección automática del rango de corriente según la fuga medida para garantizar lecturas precisas;
- Monitorización y registro en tiempo real: captura continua de la temperatura de ensayo, tensión por canal y corriente de fuga con curvas completas de evolución;
- Protección independiente contra fallos por rotura dieléctrica HV: dispositivos de protección en serie por estación para evitar daños en la placa de ensayo por fallos del dispositivo;
- Amplia compatibilidad de dispositivos: compatible con dispositivos de potencia Si/SiC/GaN, tanto en formato discreto como en módulos (IGBT, MOSFET, DIODE).
Especificaciones / Datos técnicos- Modelo: MX300R
- Tipo de ensayo: envejecimiento por esfuerzo de tensión a alta temperatura (polarización inversa)
- Componentes principales: unidad de calefacción, unidad de control de temperatura, fuentes alta/baja tensión, unidad de control y adquisición
- Dispositivos aplicables: IGBT, SiC, MOSFET, DIODE (discretos y módulos)
- Protección: protección independiente contra roturas HV y dispositivos de protección en serie por estación
- Adquisición de datos: monitorización en tiempo real de temperatura, tensión por canal y corriente de fuga con registro de curvas
- Precisión de medida: conmutación automática de rango de corriente según la fuga real para mantener la precisión
- Nota: la página no proporciona EAN, precio ni ficha técnica textual completa (algunas especificaciones se muestran en imágenes)