Sistema de prueba para laboratorio MX710D SiC

para semiconductoresin situde precisión

Presentación del producto
La serie MX710D es un sistema de ensayo dinámico de laboratorio para SiC compuesto por una fuente de alimentación CC programable de alta precisión, unidad de accesorio (fixture), unidad de medida y control, unidad de control del driver, unidad de protección e instrumentos de prueba complementarios. Emplea software de prueba de sistema desarrollado por la empresa para ofrecer una plataforma estable y precisa para las pruebas de parámetros dinámicos de dispositivos SiC, incluyendo características de encendido, apagado, recuperación inversa del diodo y comportamiento en cortocircuito.

Características del producto

• Diseñado para entornos de laboratorio con funciones de prueba completas; admite pruebas de pulso único, doble pulso y cortocircuito;
• Incopora protección contra sobrecorriente que desconecta rápidamente el circuito de corriente en caso de fallo del dispositivo;
• Inductancia parasitaria muy baja mediante diseño compacto para cumplir con las pruebas de conmutación de alta velocidad de SiC;
• Alta compatibilidad: configurable para diversos dispositivos, módulos y circuitos mediante equipamiento y accesorios de prueba adecuados;
• Interfaz HMI fácil de usar para una operación sencilla.

Interfaz del producto / Imágenes
(La página ofrece múltiples marcadores de posición para imágenes de demostración; la página real muestra diagramas del producto y capturas de pantalla de la interfaz)

Ámbito de aplicación
Adecuado para laboratorios de ensayo de características dinámicas de dispositivos de carburo de silicio (SiC), para verificación de parámetros e I+D.

Características / Especificaciones técnicas (resumen)

• Modelo: serie MX710D;
• Dispositivos aplicables: dispositivos de potencia SiC (carburo de silicio);
• Componentes del sistema: fuente CC programable, unidad de accesorio, unidad de medida y control, unidad de control del driver, unidad de protección e instrumentos de prueba complementarios;
• Tipos de prueba soportados: encendido, apagado, recuperación inversa del diodo, cortocircuito; admite pruebas de pulso único y doble;
• Protección: protección contra sobrecorriente con desconexión rápida del circuito;
• Diseño: baja inductancia parasitaria para cumplir con las pruebas de conmutación de alta velocidad de dispositivos SiC;
• Software: software de prueba de sistema desarrollado por la empresa e interfaz HMI.