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Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SU5000
para análisis3Din-situ

microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
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Características

Tipo
electrónico de barrido de emisión de campo
Aplicaciones técnicas
para análisis
Técnica de observación
BF-STEM, 3D, DF-STEM, in-situ
Configuración
de pie
Fuente de electrones
de emisión de campo Schottky
Tipo de detector
de electrones secundarios, de electronos retrodispersados
Opciones y accesorios
asistido por ordenador
Otras características
para nanotecnología, de alta resolución, automatizado, de barrido con presión variable, para muestras planas, para muestras pulidas, para topografía, para identificación de amianto, para adquisición simultánea, para las ciencias de la tierra, de gran aumento
Resolución espacial

1,2 nm

Descripción

El innovador FE-SEM analítico permite una transición sencilla entre el modo de alto vacío y el de presión variable. EM Wizard es un sistema basado en el conocimiento para la obtención de imágenes SEM que va más allá de las condiciones básicas preestablecidas y las recetas. Su facilidad de uso abre una nueva puerta para la investigación de materiales, el desarrollo y el área más allá de nuestra imaginación. El SU5000 FE-SEM ha cambiado para siempre las operaciones de SEM. La innovadora tecnología asistida por ordenador de Hitachi, denominada EM Wizard, ofrece un nuevo nivel de funcionamiento y control del SEM. Experto o novato, el resultado es ahora el mismo: ¡imágenes a nanoescala de la más alta calidad al alcance de todos! - Una novedosa y revolucionaria interfaz de usuario, EM Wizard, proporciona a todos los usuarios niveles óptimos de resolución, repetibilidad y rendimiento. Con EM Wizard, los principiantes se convierten en expertos de la noche a la mañana. - La tecnología de ajuste automático de los ejes (autocalibración) restablece el microscopio a su "mejor condición" a petición. - Una robusta cámara de muestras "extraíble" admite muestras de gran tamaño (-200 mmφ, -80 mmH). - Cambio rápido de muestras con evacuación a observación en 3 minutos o menos. - Optimización de imágenes automatizada e intuitiva sobre la marcha. - Una guía visual e interactiva ofrece la posibilidad de "elegir" los modos de SEM para garantizar las mejores condiciones de funcionamiento. - Con la herramienta 3D MultiFinder, las muestras se inclinan y giran fácilmente con la imagen centrada y enfocada. La información de ángulos múltiples procedente de un nuevo detector anular de electrones retrodispersados (BSD) adquiere simultáneamente información topográfica y de composición.

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VÍDEO

Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 abr. 2024 Stuttgart (Alemania) Stand 7103

  • Más información
    The Advanced Materials Show

    15-16 may. 2024 Birmingham (Reino Unido)

  • Más información

    Otros productos de Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.