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Sistema de escáneo 3D NimbleTrack-CR
para control de calidadpara impresión en 3Dpara la inspección

Sistema de escáneo 3D - NimbleTrack-CR - SCANTECH (HANGZHOU) CO., LTD. - para control de calidad / para impresión en 3D / para la inspección
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Características

Número de ejes
3D
Uso previsto
para la inspección, para control de calidad, de cartografía, para impresión en 3D, para retroingeniería
Tecnología
láser, de triangulación de líneas láser, por nube de puntos
Ámbito de aplicación
para piezas grandes, para la industria aeroespacial, para la industria del automóvil
Configuración
compacto, portátil
Otras características
de gran velocidad, de alta precisión, de alta resolución, de alta velocidad, de color, Ethernet, sin cable, sin contacto, con diodo láser azul, con electrónica integrada, con software de retroingeniería
Longitud

230 mm
(9 in)

Anchura

203 mm
(8 in)

Distancia de lectura

250 mm
(9,8 in)

Descripción

Resumen del producto
NimbleTrack-CR es un sistema de escaneo 3D inteligente e inalámbrico diseñado para la captura de detalles finos. Basado en las funciones avanzadas de la serie NimbleTrack —libertad inalámbrica, diseño ligero y portátil, y alta precisión— esta solución de nueva generación captura características finas y estructuras intrincadas para metrología industrial, preservación del patrimonio, investigación y restauración.

Capacidades principales
  • Captura de alto detalle con imagen óptica de última generación y algoritmos inteligentes que incluyen tecnología avanzada en cruz y procesamiento de imagen subpíxel.
  • Equipada con cámaras industriales de alto rendimiento y algoritmos de software inteligentes para asegurar escaneos precisos y muy detallados.
  • Ligera y portátil: diámetro de 230 mm y peso neto aproximado de 1,3 kg; diseñada para caber en un único estuche para transporte y almacenamiento.
  • Edge computing y funcionamiento inalámbrico: módulo informático a bordo, baterías integradas para el escáner y el rastreador, diseño WNIC (inalámbrico) para flujos de trabajo de escaneo sin cables.
  • Escaneo multi-modo: admite escaneo ultra-rápido, hiperfino y de orificios profundos para adaptarse a diferentes necesidades de escaneo.
  • Compatibilidad con múltiples materiales: escanea textiles, cerámica, bronce, chapa metálica y más sin necesidad de recubrimiento, protegiendo superficies delicadas.
  • Adaptable a diversos entornos, incluidos interiores y exteriores (incluso bajo luz solar directa) y adecuado para piezas de pequeño a mediano tamaño.

Software y usabilidad
  • Smart Resolution: ajusta automáticamente la resolución de escaneo según las características del objeto y el entorno antes del escaneo.
  • Indicadores de color: muestra en tiempo real las zonas escaneadas y no escaneadas en colores diferentes para ayudar a identificar puntos ciegos y datos faltantes.
  • Multi-resolución en tiempo real: permite ajustar la resolución durante el escaneo para capturar geometrías complejas y detalles críticos.
  • Flujos de trabajo integrados para escaneo 3D + mapeo de texturas para reproducir colores, texturas y geometría para archivos digitales y exposiciones realistas.

Aplicaciones
  • Medición industrial y control de calidad (piezas pequeñas a medianas, curvas y contornos complejos, palas de turbina, etc.).
  • Preservación del patrimonio (escaneo sin contacto, sin daños, escaneos de alta fidelidad para restauración y archivo digital).
  • Diseño artístico, investigación educativa, ingeniería inversa y otras tareas de digitalización.

Notas sobre seguridad y certificación
  • El modo de preservación del patrimonio está certificado como láser Clase I para el escaneo no invasivo y seguro de artefactos delicados.
  • El sistema y el rendimiento de medición están acreditados según ISO 17025 (evaluado con base en VDI/VDE 2634 Parte 3 y JJF 1951).

Especificaciones técnicas
  • Tipo: NimbleTrack-CR
  • Modos de escaneo: Escaneo ultra-rápido (17 cruces láser azules); Escaneo hiperfino (7 líneas láser paralelas azules); Escaneo de orificios profundos (1 línea láser azul)
  • Precisión (modo solo escáner): Hasta 0,020 mm
  • Precisión (sistema): Hasta 0,025 mm
  • Distancia de seguimiento por i-Tracker: 3200 mm
  • Precisión volumétrica (distancia de seguimiento 3,2 m): 0,064 mm
  • Precisión volumétrica (con sistema de fotogrametría MSCAN): 0,044 mm + 0,012 mm/m
  • Precisión de posición de agujeros: 0,050 mm
  • Clase láser: Clase II (seguro para los ojos)
  • Resolución hasta: 0,010 mm
  • Distancia focal: 250 mm
  • Profundidad de campo: 300 mm
  • Área de escaneo hasta: 150 mm × 190 mm
  • Frecuencia de cuadros de escaneo: 120 fps
  • Tasa de medición hasta: 4.900.000 mediciones/s
  • Dimensiones del i-Scanner: 238 mm × 203 mm × 230 mm
  • Peso del i-Scanner: 1,3 kg (peso neto); 1,4 kg (con batería y módulo inalámbrico incluidos)
  • Dimensiones del i-Tracker: 570 mm × 87 mm × 94 mm
  • Peso del i-Tracker: 2,2 kg (peso neto); 2,6 kg (con batería y módulo inalámbrico incluidos)
  • Tamaño del estuche de protección: 1000 mm × 425 mm × 280 mm
  • Formatos de salida: .stl, .obj, .ply, .asc, .igs, .txt, .mk2, .umk, etc.
  • Rango de temperatura de funcionamiento: -10°C – 40°C
  • Humedad de funcionamiento (sin condensación): 10–90% HR
  • Modo de operación inalámbrico: i-Scanner, i-Tracker, i-Scanner + i-Tracker, i-Tracker + i-Probe, seguimiento multi-tracker inalámbrico, Edge Inspection
  • Estándar inalámbrico: Wi-Fi 6, 802.11a/b/g/n/ac
  • Modo de interfaz: USB 3.0, Gigabit Ethernet
  • Patentes: CN109000582B, CN211121096U, CN210567185U, CN111678459B, CN114001696B, CN114554025B, CN114205483B, CN113514008B, CN114627249B, CN112867136B, CN218103220U, CN218103238U, CN307756797S, CN113340234B, CN112964196B, CN115289974B, CN113188476B, CN218411072U, CN115325959B, CN218584004U, CN115661369B, CN218734448U, CN115493512B, CN110992393B, CN116136396B, CN113432561B, CN219834226U, CN219829788U, CN116244730B, CN116206069B, US10309770B2, US11060853B2, KR102096806B1, EP3392831B1, US11493326B2
  • Notas: (1) Acreditación ISO 17025: Basado en la norma VDI/VDE 2634 Parte 3 y la especificación JJF 1951, se evalúa el rendimiento del error de sondeo (tamaño) (PS). (2) Acreditación ISO 17025: Basado en la norma VDI/VDE 2634 Parte 3 y la especificación JJF 1951, se evalúa el rendimiento del error de espaciamiento de esferas (SD).

Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

IMTS 2026
IMTS 2026

14-19 sept. 2026 Chicago (USA - Illinois) Hall East Level 3 - Stand 134718

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.