Descripción generalCámara HAST (Highly Accelerated Stress Test) diseñada para evaluar componentes electrónicos y empaques semiconductores bajo condiciones combinadas de presión, temperatura y humedad (normalmente 70 %–100 % HR, vapor saturado). La cámara simula entornos severos para valorar la resistencia a la humedad, riesgo de delaminación, corrosión de metalizaciones y fallos eléctricos en PCB, FPC y empaques semiconductores.
NormasCumple la norma JESD22-A110.
Tipos de ensayo combinados- HAST saturado: típicamente a 121 °C con 100 % HR (vapor saturado).
- HAST insaturado: típicamente a 110 °C / 120 °C / 130 °C con humedad alrededor del 70 %–85 % HR.
Características de seguridad- Bloqueo de la cámara interior: impide el arranque si la cámara interior no está correctamente cerrada.
- Válvula de seguridad: alivio automático cuando la presión interna supera el valor seguro.
- Doble protección contra sobrecalentamiento: alarma y corte automático de la calefacción si la temperatura interior es excesiva.
- Protección de la tapa: tapa interior en aleación de aluminio para proteger al operador de quemaduras.
Especificaciones técnicas- Modelos: HAST - 35; HAST - 45; HAST - 55
- Dimensión interna Φ x D (mm): HAST-35 = 350 x 450; HAST-45 = 450 x 550; HAST-55 = 550 x 650
- Dimensión externa (mm): HAST-35 = 900 x 1350 x 900; HAST-45 = 1000 x 1480 x 1000; HAST-55 = 1150 x 1650 x 1200
- Rango de temperatura del vapor: 100 °C – 135 °C (143 °C opcional)
- Humedad del vapor: 70 – 100 % HR (ajustable)
- Recirculación: circulación forzada de vapor para uniformidad
- Dispositivos de protección: protección por bajo nivel de agua; protección contra sobrepresión; reposición de agua automática/manual; descarga automática de presión
- Accesorios: bandeja de acero inoxidable de dos capas