Espectrómetros de medición HELMUT FISCHER

... de medición • Diseño compacto y robusto, para uso a largo plazo • No se necesita preparación de muestra. Simplemente coloque el artículo en la ventana de medición en la cámara de medición • ...

... resolución energética que el diodo PIN de silicio. Los espectrómetros XDAL & nbsp; equipados de este modo se utilizan para resolver tareas de medición complejas en la industria electrónica: por ejemplo, ...

... Análisis de baños galvánicos y medición del espesor del recubrimiento con fluorescencia de rayos X según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • El punto de medición más pequeño con el XULM & nbsp; aprox. 0,1 mm; ...

... Análisis de baños galvánicos y medición del espesor del recubrimiento con fluorescencia de rayos X según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • El punto de medición más pequeño con el XULM & nbsp; aprox. 0,1 mm; ...

• Espectrómetros de fluorescencia de rayos X para análisis de metales y metales preciosos, medición de espesores de recubrimiento y detección de RoHS según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • Detectores de semiconductores ...

... rápida y sencilla, las tareas de medición ya están preprogramadas Diseño de medición rápida. La muestra se coloca y está lista para la medición en unos pocos pasos Procesador digital ...

... cada medición, como resultado y NBSP; Flexibilidad máxima para una amplia gama de tareas de medición. El procesador Digital Pulse DPP + permite el procesamiento de tasas de alto conteo para la precisión ...

• Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con dispersión de energía para el análisis automatizado de materiales y la medición no destructiva del espesor del recubrimiento de acuerdo con ISO 3497 y ASTM ...

... ABS • Medición de recubrimientos de oro funcionales en placas de circuito impreso como Au / Ni / Cu / PCB o Sn / Cu / PCB • Recubrimientos en conectores y contactos en la industria electrónica como Au / Ni / Cu y Sn ...

... Ahora se pueden procesar un mayor número de cuentas, lo que permite reducir los tiempos de medición o mejorar la repetibilidad de los resultados de las mediciones. Al mismo tiempo, el XDV-SDD es perfectamente ...

Medidor por fluorescencia de rayos X con óptica de rayos X policapilar para la medición y el análisis automáticos de espesores y composiciones de recubrimientos en los componentes y estructuras más pequeños.