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Espectrómetros XRF HELMUT FISCHER
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... • Espectrómetros de fluorescencia de rayos X para análisis de metales y metales preciosos, medición de espesores de recubrimiento y detección de RoHS según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • Detectores de semiconductores premium ...
HELMUT FISCHER SRL
... • Prueba de oro no destructiva, rápida y precisa • Amplia cámara de medición • Diseño compacto y robusto, para uso a largo plazo • No se necesita preparación de muestra. Simplemente coloque el artículo en la ventana de medición en la cámara de medición • ...
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... autenticidad. Robusto dispositivo XRF de sobremesa optimizado para el análisis más potente, rápido y no destructivo de joyas, monedas y metales preciosos, también apto para piezas de mayor tamaño. Análisis por fluorescencia de ...
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... un instrumento XRF Bench-Top Friendly para el usuario para las mediciones de espesor de recubrimiento y los análisis de materiales. Se caracteriza por un diseño compacto y práctico, pero con los componentes de medición de precisión XRF ...
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... • Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con dispersión de energía para el análisis automatizado de materiales y la medición no destructiva del espesor del recubrimiento de acuerdo con ISO 3497 y ASTM B 568 & nbsp; • ...
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espectrómetro de fluorescencia de rayos XFISCHERSCOPE® XDLM®
... / PCB • Recubrimientos en conectores y contactos en la industria electrónica como Au / Ni / Cu y Sn / Ni / Cu Los espectrómetros FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® y XDLM® están estrechamente relacionados con la serie XUL & nbsp; Todos los ...
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... El FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® es el mejor instrumento de medición de fluorescencia de rayos X de la serie XDL & nbsp; . Como sus 'hermanos pequeños', mide de arriba a abajo, lo que hace que la medición de muestras de formas irregulares ...
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... El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD es uno de los instrumentos de fluorescencia de rayos X más potentes de Fischer . Este espectrómetro XRF está equipado con un potente detector de deriva de silicio (SDD) ...
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... más finos < 0,1 µm • Tubo Ultra microfocus con ánodo de tungsteno para un rendimiento mayor en los puntos más pequeños con µ- XRF; ánodo de molibdeno opcional • 4x Filtro intercambiable • Detector de deriva de silicio SDD extremadamente ...
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... El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD es el instrumento XRF líder del sector para aplicaciones de conectores y electrónica. La exclusiva distancia de medición de 12 mm permite medir piezas de prueba de formas complejas, como placas de circuito ...
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