Platina de nanoposicionamiento lineal PLF3232-x.60

piezoeléctrica1 ejecompacta

Las etapas de escáner de nanoposicionamiento SMARFLEX aprovechan las ventajas de las flexiones mecánicas piezoeléctricas para realizar tareas de posicionamiento de alta precisión de hasta varios 100 μm. El PLF3232-x.60 ofrece un rango de exploración de 60 μm en la dirección X. Con un peso de 30 g, es muy ligero y también bastante compacto, con 32 x 32 x 12 mm. Especificaciones Alcance de exploración [µm] - > 60 Fuerza normal máx. Fuerza normal [N] - 5,0 Dimensiones [mm] - 32 x 32 x 12 Peso [g] - 30 Material Material de la base - Titanio(-TI) / Base de aluminio (-Al) Bucle abierto Resolución en bucle abierto MCS2 [nm] - MCS2: <1 Bucle cerrado Resolución del sensor MCS2 [nm] - MCS2: 1 (S) Opciones Opciones de vacío - HV (10-⁶ mbar) Opción no magnética - Sí (- NM)