Microscopios de laboratorio Tescan

El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de 4ta generación VEGA de TESCAN con fuente de electrones de filamento de tungsteno combina imágenes SEM con análisis de composición elemental en vivo en única ...

SEM analítico de alta resolución para rutinas de caracterización de materiales, investigación y aplicaciones de control de calidad a escala submicrométrica Los Microscopios Electrónicos de Barrido ...

... TESCAN TIMA es una solución dedicada a las necesidades de análisis mineralógico automatizado en los estudios de ciencias de la Tierra, así como en el procesamiento industrial de minerales. En su cuarta generación, TESCAN TIMA ha mejorado ...

Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales a multiescala • Alto rendimiento, procesamiento FIB de área grande de hasta 1 mm • Preparación de micromuestra sin Ga • Ultra alta ...

... versátil para amplias capacidades de investigación de materiales • Preparación de micro muestras con alta precisión • Imagen SEM libre de campos con ultra alta resolución con nano análisis • Campo de visión extendido ...

Banco de trabajo de nanofabricación avanzada para su laboratorio de investigación • Excelente imagen SEM de Ultra Alta Resolución • Columna FIB de Ga con mayor resolución • Motor de nanograbado de ...

... planas congeladas por inmersión • Solución compatible con todos los crio TEM del mercado. • Excelente rendimiento de imagen SEM a muy bajo kV • Cuenta de usuario con proyecto criogénico dedicado a sus operaciones criogénicas ...

... resolución con bajo ruido en keV en tiempo de adquisición corto de coincidencia FIB-SEM con la muestra inclinada • Monitoreo SEM en vivo durante el fresado FIB para un apunte final preciso • Observe los materiales sensibles ...